Število rezultatov iskanja: 25
Tip gradiva
znanstveno časopisje in članki (25)
Časopisje in članki - naslov
Informacije MIDEM (25)odstrani
Časopisje in članki - oblika
članki (25)
Jezik
angleški (19)
slovenski (6)
Leto izida
1991 (1)
1994 (1)
2001 (3)
2002 (3)
2003 (1)
2004 (2)
2005 (1)
2007 (4)
2011 (2)
2012 (3)
2016 (3)
2018 (1)
Izvor
Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale (25)
Vsebina
Industrija, obrt, rokodelstvo (1)
Inženirstvo, tehnologija (20)
Računalništvo (4)
Založnik
Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale (25)
Pravice
pravice pridržane (25)
Dostop
Prost (25)
Išči med rezultati (25)
Razvrsti po:
A comprehensive review on perfusion cell culture systems
Avtorji: Yu, Fang (avtor) / Iliescu, Florina Silvia (avtor) / Iliescu, Ciprian (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2016, letnik 46, številka 4
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
(Obvezni izvod spletne publikacije)
1. PDF datoteka (575 kB)
1. TXT datoteka (63 kB)
Measurement system for testing of bipolar plates for PEM electrolyzers
Avtorji: Petkovšek, Marko (avtor) / Kosmatin, Peter (avtor) / Zevnik, Ciril (avtor) / Vončina, Danijel (avtor) / Zajec, Peter (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2012, letnik 42, številka 1
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
(Obvezni izvod spletne publikacije)
1. PDF datoteka (293 kB)
1. TXT datoteka (31 kB)
Performance of Ni-alloy MEMS-probes coated with PdCo films in semiconductor wafer test
Avtorji: Tunaboylu, Bahadir (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2016, letnik 46, številka 2
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
(Obvezni izvod spletne publikacije)
1. PDF datoteka (4234 kB)
1. TXT datoteka (40 kB)
Mechanical properties of low temperature co-fired ceramics
Avtorji: Bermejo, Raúl (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2012, letnik 42, številka 4
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
(Obvezni izvod spletne publikacije)
1. PDF datoteka (1044 kB)
1. TXT datoteka (23 kB)
Prediction of radiated emissions of automotive electronics early in the design phase based on aut...
Avtorji: Ergaver, Gregor (avtor) / Trontelj, Janez (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2016, letnik 46, številka 1
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
(Obvezni izvod spletne publikacije)
1. PDF datoteka (1831 kB)
1. TXT datoteka (39 kB)
On-line testing and recovery of systems on SRAM-based FPGA
Avtorji: Legat, Uroš (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2012, letnik 42, številka 3
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
(Obvezni izvod spletne publikacije)
1. PDF datoteka (602 kB)
1. TXT datoteka (33 kB)
Extraction of two wire loop topology using hybrid single ended loop testing
Avtorji: Bharathi, M. (avtor) / Amsaveni, A. (avtor) / Ravishankar, S. (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2018, letnik 48, številka 1
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
(Obvezni izvod spletne publikacije)
1. PDF datoteka (1787 kB)
1. TXT datoteka (37 kB)
Neporušno testiranje planarnih paramagnetikov in feromagnetikov
Avtorji: Miljavec, Damijan (avtor) / Šušmelj, Rajko (avtor) / Lenasi, Konrad (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2004, letnik 34, številka 1
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (622 kB)
1. TXT datoteka (25 kB)
Debug and diagnosis
Avtorji: Wunderlich, Hans-Joachim (avtor) / Elm, Melanie (avtor) / Holst, Stefan (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2007, letnik 37, številka 4
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (846 kB)
1. TXT datoteka (42 kB)
Testne kartice - pomemben dejavnik pri testiranju današnjih kompleksnih mikroelektronskih vezij
Avtorji: Bele, Zlatko (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 1994, letnik 24, številka 3
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (667 kB)
1. TXT datoteka (14 kB)
Testiranje kombinacijskih vezij
Avtorji: Žemva, Andrej (avtor) / Zajc, Baldomir (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 1991, letnik 21, številka 2
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (475 kB)
1. TXT datoteka (19 kB)
Problem neponovljivosti simulacij električnih vezij
Avtorji: Šalamon, Matej (avtor) / Dogša, Tomaž (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2004, letnik 34, številka 1
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (545 kB)
1. TXT datoteka (27 kB)
Design & test of system-in-package
Avtorji: Cauvet, P. (avtor) / Bernard, S. (avtor) / Renovell, Michel (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2007, letnik 37, številka 4
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (1158 kB)
1. TXT datoteka (31 kB)
Development and analyzis of fast, post-probe silicon wafer inking algorithms
Avtorji: Trontelj, Janez (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2002, letnik 32, številka 4
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (518 kB)
1. TXT datoteka (15 kB)
Dodatni primerjalni testi za simulatorje SPICE
Avtorji: Dogša, Tomaž (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2001, letnik 31, številka 2
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (478 kB)
1. TXT datoteka (24 kB)
Testability issues of system-on-chip design
Avtorji: Novak, Franc (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2001, letnik 31, številka 2
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (375 kB)
1. TXT datoteka (18 kB)
Challenges and solutions for thermal-aware SoC testing
Avtorji: Peng, Zebo (avtor) / He, Zhiyuan (avtor) / Eles, Petru (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2007, letnik 37, številka 4
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (733 kB)
1. TXT datoteka (37 kB)
Exploiting symbolic model checking for sensing stuck-at faults in digital circuits
Avtorji: Časar, Aleš (avtor) / Brezočnik, Zmago (avtor) / Kapus, Tatjana (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2002, letnik 32, številka 3
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (938 kB)
1. TXT datoteka (45 kB)
Functionality test for magnetic angular postitioning integrated circuit
Avtorji: Trontelj, Janez (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2001, letnik 31, številka 4
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (347 kB)
1. TXT datoteka (8 kB)
Decision diagrams and digital test
Avtorji: Ubar, Raimund (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2005, letnik 35, številka 4
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (772 kB)
1. TXT datoteka (38 kB)
Formal verification of distributed mutual-exclusion circuits
Avtorji: Meolic, Robert (avtor) / Kapus, Tatjana (avtor) / Dugonik, Bogdan (avtor) / Brezočnik, Zmago (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2003, letnik 33, številka 3
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (1290 kB)
1. TXT datoteka (47 kB)
Challenging issues in electronic testing
Avtorji: Novak, Franc (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2007, letnik 37, številka 4
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (208 kB)
1. TXT datoteka (11 kB)
IEEE 1149.1 standard: a widely supported design for testability technology
Avtorji: Kač, Uroš (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2002, letnik 32, številka 2
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (983 kB)
1. TXT datoteka (30 kB)
Flexible low cost ASIC design verification tool with guidelines for generation of STDF for multi ...
Avtorji: Trontelj, Janez (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2011, letnik 41, številka 1
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (595 kB)
1. TXT datoteka (19 kB)
Efficient built-in self-test of a high-precision electronic watt-hour meter
Avtorji: Ribnikar, Rok (avtor) / Bizjak, Uroš (avtor) / Strle, Drago (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 2011, letnik 41, številka 3
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (1056 kB)
1. TXT datoteka (23 kB)
Vse pravice pridržane © 2024 Narodna in univerzitetna knjižnica, Turjaška 1, 1000 Ljubljana