Krom-nitridne prevleke, nanesene na podlage iz nerjavnega jekla, omogočijo, da so površine trde in obrabno obstojne. V okviru skupnega raziskovalnega programa "Modifikacija materialov z ionsko obdelavo za industrijsko uporabo", ki ga je organizirala Mednarodna agencija za atomsko energijo (IAEA), je bila trda prevleka kriptona CrN z nestehiometrično sestavo nanesena na jeklene podlage (SS304) in preiskana v dvanajstih laboratorijih. Tu poročamo o rezultatih raziskav sodelavcev Laboratorija za analizo površin in tankih plasti Inštituta za tehnologijo površin in optoelektroniko v Ljubljani. Jeklene podlage so prekrili z okrog 1mim debelo prevleko CrN v laboratoriju Spire Corporation v Bedfordu, Massachusetts, ZDA. Za nanos so uporabili postopek IBAD-Ion Beam Assisted Deposition, med naparevanjem kroma z elektronskim curkom pa so tanko plast obstreljevali z ioni dušika. Za doseganje enakomerne debeline in sestave tanke plasti so se med postopkom njenega nanašanja jeklene podlage pomikale prečno nad izviroma Cr in N in se obenem vrtele. Za karakterizacijo krom-nitridne plasti smo uporabili spektroskopijo Augerjevih elektronov (AES), rentgensko fotoelektronsko spektroskopijo (XPS), mikroskop na atomsko silo (AFM), izmerili pa smo tudi njeno trdoto in Youngov modul.

Pravice

URN

URN:NBN:SI:DOC-CP44L562

COBISSID

36322

Objavljeno

16.09.2009

Metapodatki

Citiranje

APA:

Zalar, Anton, Kovač, Janez, Praček, Borut, Kunert, Maik (1999). Karakterizacija krom-nitridne prevleke, nanesene na nerjavno jeklo s postopkom IBAD. Vakuumist, letnik 19, številka 1, str. 20-23. URN:NBN:SI:DOC-CP44L562 from http://www.dlib.si

MLA:

Zalar, Anton, Kovač, Janez, Praček, Borut, Kunert, Maik. "Karakterizacija krom-nitridne prevleke, nanesene na nerjavno jeklo s postopkom IBAD." Vakuumist letnik 19. številka 1 (1999) str. 20-23.
<http://www.dlib.si/?URN=URN:NBN:SI:DOC-CP44L562>

Vakuumist
1981-
(Zbirni zapis)