APA:
Novak, Franc (2003). Current trends in embedded system test.
Informacije MIDEM, letnik 33, številka 4, str. 254-259.
URN:NBN:SI:DOC-6ZL1S98K from http://www.dlib.si
MLA:
Novak, Franc. "Current trends in embedded system test."
Informacije MIDEM letnik 33. številka 4 (2003) str. 254-259.
<http://www.dlib.si/?URN=URN:NBN:SI:DOC-6ZL1S98K>