APA:
Benlatreche, M.S., Rahmoune, F., Toumiat, O. (2011). Experimental investigation of Si-SiO2 interface traps using equilibrium voltage step technique.
Informacije MIDEM, letnik 41, številka 3, str. 168-170.
URN:NBN:SI:DOC-8MVIYYQG from http://www.dlib.si
MLA:
Benlatreche, M.S., Rahmoune, F., Toumiat, O.. "Experimental investigation of Si-SiO2 interface traps using equilibrium voltage step technique."
Informacije MIDEM letnik 41. številka 3 (2011) str. 168-170.
<http://www.dlib.si/?URN=URN:NBN:SI:DOC-8MVIYYQG>