Število rezultatov iskanja: 3
Tip gradiva
znanstveno časopisje in članki (3)
Časopisje in članki - naslov
Informacije MIDEM (3)
Časopisje in članki - oblika
članki (3)
Jezik
angleški (3)
Leto izida
1997 (3)odstrani
Izvor
Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale (3)
Vsebina
Inženirstvo, tehnologija (3)odstrani
Kemija (1)
Založnik
Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale (3)
Pravice
pravice pridržane (3)
Dostop
Prost (3)
Išči med rezultati (3)
Razvrsti po:
Infrared spectroscopy as analysing tool for materials used in microelectronics
Avtorji: Klanjšek Gunde, Marta (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 1997, letnik 27, številka 1
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (874 kB)
1. TXT datoteka (38 kB)
Scanning probe microscopy and spectroscopy
Avtorji: Born, Axel (avtor) / Wiesendanger, Roland (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 1997, letnik 27, številka 4
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (998 kB)
1. TXT datoteka (18 kB)
SiGe-heterojunction bipolar transistors
Avtorji: Behammer, Dag (avtor) / Gruhle, A. (avtor) / König, U. (avtor) / Schüppen, A. (avtor)
Vir: Informacije MIDEM
Številčenje: 1997, letnik 27, številka 4
Izvor: Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
1. PDF datoteka (1286 kB)
1. TXT datoteka (37 kB)
Vse pravice pridržane © 2024 Narodna in univerzitetna knjižnica, Turjaška 1, 1000 Ljubljana