Avtomatizirano merjenje enosmernih karakteristik polprevodniških elementov

slovenski

2004

letnik 34, številka 2

električne meritve   LabVIEW   merjenje   mikrokrmilniki   polprevodniki   pretvorniki

Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale

V prispevku obravnavamo avtomatizirano merjenje enosmernih karakteristik polprevodniških elementov. Na področju avtomatiziranega merjenja karakteristik obstajajo številne rešitve. Večina le-teh je ozko namenska in omogočajo merjenje le določenih polprevodniških elementov. Cilj je razviti široko zasnovan merilni sistem, ki bo omogočal avtomatsko merjenje različnih polprevodniških elementov. Takšna izvedba omogoča merjenje enostavnih karakteristik na primer diode in merjenje bolj kompleksnih parametričnih karakteristik na primer tranzistorja. Dodatna prednost take zasnove je možnost enostavne razširitve z novimi funkcijami na primer z raznimi analizami izmerjenih podatkov. Prikazani so splošna blokovna shema, lastnosti merilnega sistema in merilni rezultati. za nastavljanje vrednosti vhodnih signalov in merjenje izhodnih je uporabljen mikrokrmilnik, za nadzor, predstavitev rezultatov, hranjenje vrednosti in obdelavo pa osebni računalnik. Zasnova merilnega sistema omogoča prosto izbiro programskega orodja, ki ga bomo uporabljali na osebnem računalniku. V našem primeru smo izbrali programski paket LabVIEW, ki omogoča hiter in enostaven razvoj, ter možnost nadgradnje programa z novimi funkcijami. Predstavljeni so primeri avtomatiziranih meritev in primerjava našega merilnega sistema s komercialno merilno kartico. Prednost našega merilnega sistema je predvsem v širšem merilnem območju merjenja, bistveno boljši tokovni zmogljivosti in cenovni ugodnosti sistema.

18.12.2015