APA:
Bratina, Gvido (1988). Karakterizacija polprevodnikov z rastrskim elektronskim mikroskopom.
Informacije MIDEM, letnik 18, številka 1.
URN:NBN:SI:DOC-P6WVMLPA from http://www.dlib.si
MLA:
Bratina, Gvido. "Karakterizacija polprevodnikov z rastrskim elektronskim mikroskopom."
Informacije MIDEM letnik 18. številka 1 (1988).
<http://www.dlib.si/?URN=URN:NBN:SI:DOC-P6WVMLPA>