V članku opisujemo računalniško podprt postopek določanja statičnih l - U karakteristik elektronskih elementov. Osnovna kriterija izbire števila merilnih točk na karakteristiki sta hitrost meritve in zveznost izmerjene karakteristike, ki pa sta protislovna. Postopek temelji na adaptivni metodi izbiranja omejenega števila maksimalne merilnih točk tako, da so enakomerno razporejene po kakrakteristiki, brez vnaprejšnjega poznavanja lastnosti merjenca, ob omejitvah dovoljene moči, toka in napetosti. Realiziran je v obliki virtualnega instrumenta v programskem okolju LabView firme National Instruments. Rezultati meritev statičnih karakteristik različnih tipov merjencev, kot so: upor, dioda, tranzistor, zener dioda in tristor, potrjujejo uspešnost predstavljene metode tudi v primerih izbire dokaj malega števila merilnih točk (10-15).

Pravice

URN

URN:NBN:SI:DOC-KQO92DKR

COBISSID

6756886

Objavljeno

18.12.2015

Metapodatki

Citiranje

APA:

Mohorko, Jože, Mikola, Ladislav (2001). Adaptivna metoda merjenja statičnih karakteristik elektronskih komponent in njena realizacija z virtualnim instrumentom. Informacije MIDEM, letnik 31, številka 3, str. 178-184. URN:NBN:SI:DOC-KQO92DKR from http://www.dlib.si

MLA:

Mohorko, Jože, Mikola, Ladislav. "Adaptivna metoda merjenja statičnih karakteristik elektronskih komponent in njena realizacija z virtualnim instrumentom." Informacije MIDEM letnik 31. številka 3 (2001) str. 178-184.
<http://www.dlib.si/?URN=URN:NBN:SI:DOC-KQO92DKR>

Informacije MIDEM
1986-
(Zbirni zapis)

Adaptivna metoda merjenja statičnih karakteristik elektronskih komponent in njena realizacija z virtualnim instrumentomAdaptive method for the measurement of statical characteristics of electronics parts and its realisation as virtual instrument

Adaptivna metoda merjenja statičnih karakteristik elektronskih komponent in njena realizacija z virtualnim instrumentom
Adaptive method for the measurement of statical characteristics of electronics parts and its realisation as virtual instrument