APA:
Grant, John T. (2002). Analysis of nanowear and thin films using AES and XPS.
Materiali in tehnologije, letnik 36, številka 6, str. 307-312.
URN:NBN:SI:DOC-GMTRMDST from http://www.dlib.si
MLA:
Grant, John T.. "Analysis of nanowear and thin films using AES and XPS."
Materiali in tehnologije letnik 36. številka 6 (2002) str. 307-312.
<http://www.dlib.si/?URN=URN:NBN:SI:DOC-GMTRMDST>