APA:
Kovač, Janez (1998). Rentgenska fotoelektronska spektroskopija z visoko lateralno ločljivostjo - mikro XPS.
Vakuumist, letnik 18, številka 2, str. 4-11.
URN:NBN:SI:DOC-GLJOZ52R from http://www.dlib.si
MLA:
Kovač, Janez. "Rentgenska fotoelektronska spektroskopija z visoko lateralno ločljivostjo - mikro XPS."
Vakuumist letnik 18. številka 2 (1998) str. 4-11.
<http://www.dlib.si/?URN=URN:NBN:SI:DOC-GLJOZ52R>