Seed and polynomial selection algorithm for LFSR test pattern generator in built-in self-test environment

angleški

2004

letnik 34, številka 3

algoritmi   digitalna vezja   generator testnih vzorcev   preizkušanje

Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale

Testiranje digitalnih vezij je bistvenega pomena, da bi zagotovili visoko stopnjo funkcijske zanesljivosti ter kakovosti proizvedenega vezja. Pri postopku testiranja na vhodne priključke vezja privedemo določen nabor testnih vektorjev in preverjamo pravilnost odzivov na izhodnih priključkih. Pri klasičnem načinu testiranja v ta namen uporabljamo testne naprave (ATE). Metode, pri katerih se del testiranja izvede znotraj samega vezja, se vedno bolj uporabljajo in prevzemajo pomembno vlogo pri testiranju sodobnih vezij. Današnje tehnologije omogočajo visoko gostoto vezij in dostopnost do testnih priključkov je vedno bolj otežena. Problem dostopain zmanjšanja odvisnosti od uporabe dragih naprav ATE je mogoče rešiti z uporabo vgrajenih testnih metod BIST. Razen ekonomskih ima BIST še vrsto drugih prednosti, kot je pouporaba testnih modulov in možnost za izvedbo hierarhičnega testiranja. V članku predstavimo osnove vgrajenega testa BIST in nov pristop k testiranju kombinacijskih logičnih vezij. Podan je algoritem za ugotavljanje najprimernejšega semena in poli no ma iz določene končne množice psevdonaključnih generatorjev za generiranje naključnih testnih vektorjev. Z izbranim naborom testnih vektorjev zagotovimo visoko stopnjo pokritja napak z minimalno potrebno testno dolžino. Metodo lahko uporabimo za dva načina izvedbe testa (TPC in TPS). Cilj predlagane metode je sistematično določanje primerne začetne vrednosti (semena), kot tudi vrste polinoma za psevdonaključni generator. Naključne generatorje izberemo tako, da bi jih lahko realizirali z najmanj dodatnimi elementi. Skrajšati želimo potrebni čas za samo izvedbo testa s predpostavko, da bi dosegli čim višje pOkritje napak. Naključno dobljen nabor testnih vektorjev primerjamo z deterministično izračunanimi testnimi vektorji. Eksperimenti so prikazani na standard nem naboru primerljivih vezjih iz družine ISCAS85 (iSCAS89) /7 /.

18.12.2015