APA:
Long, Ting, Shiqi, Jiang, Lijia, Xu (2015). Reducing the length of the test sequence for analog test signal generation.
Elektrotehniški vestnik, letnik 82, številka 1/2, str. 8-14.
URN:NBN:SI:DOC-4HENBCE7 from http://www.dlib.si
MLA:
Long, Ting, Shiqi, Jiang, Lijia, Xu. "Reducing the length of the test sequence for analog test signal generation."
Elektrotehniški vestnik letnik 82. številka 1/2 (2015) str. 8-14.
<http://www.dlib.si/?URN=URN:NBN:SI:DOC-4HENBCE7>