Radiation induced multiple bit upset prediction and correction in memories using cost efficient CMC
Napoved in korekcija s sevanjem povzročenih večbitnih napak v pomnilnikih z uporabo učinkovitih CMC kod

1. PDF datoteka (1856 kB)

1. TXT datoteka (36 kB)

Izvoz v EndNote (RIS format)

Avtor(ji)

Ahilan, A. (avtor)
Deepa, P. (avtor)

Jezik

angleški

Vir

Informacije MIDEM

Leto

2016

Številčenje

letnik 46, številka 4

Vsebina

pomnilniki sevanje zaščita večbitne napake

Založnik

Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale

Izvor

Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
(Obvezni izvod spletne publikacije)

Pravice

URN

URN:NBN:SI:DOC-3UAMZMIK

COBISSID

291326208

Objavljeno

04.09.2017

Metapodatki

Citiranje

APA:

Ahilan, A., Deepa, P. (2016). Radiation induced multiple bit upset prediction and correction in memories using cost efficient CMC. Informacije MIDEM, letnik 46, številka 4, str. 257-266. URN:NBN:SI:DOC-3UAMZMIK from http://www.dlib.si

MLA:

Ahilan, A., Deepa, P.. "Radiation induced multiple bit upset prediction and correction in memories using cost efficient CMC." Informacije MIDEM letnik 46. številka 4 (2016) str. 257-266.
<http://www.dlib.si/?URN=URN:NBN:SI:DOC-3UAMZMIK>

Informacije MIDEM
1986-
(Zbirni zapis)

Radiation induced multiple bit upset prediction and correction in memories using cost efficient CMCNapoved in korekcija s sevanjem povzročenih večbitnih napak v pomnilnikih z uporabo učinkovitih CMC kod

Radiation induced multiple bit upset prediction and correction in memories using cost efficient CMC
Napoved in korekcija s sevanjem povzročenih večbitnih napak v pomnilnikih z uporabo učinkovitih CMC kod