Priprava tankoplastnih vzorcev za presevno elektronsko mikroskopijo - Čekada, Miha (Vakuumist, 2001)
Opisan je postopek priprave vzorcev za analizo tankih plasti s presevnim elektronskim mikroskopom. V prvem delu je opisana mehanska priprava vzorca (tanjšanje) tako za klasično kot tudi za presecno presevno elektronsko mikroskopijo. V drugem delu govorimo o ionskem jedkanju vzorcev z razlago fizikalnega ozadja izbire parametrov.
Keywords: tanke plasti; elektronska mikroskopija; priprava vzorcev; ionsko jedkanje