Analysis of contact layers in miniature electrical relays with Auger electron spectroscopy - Koller, Lidija (Informacije MIDEM, 1995)
S spektroskopijo Augerjevih elektronov smo študirali strukturo površine kontaktov miniaturnih električnih relejev. Poleg zlata, železa, niklja in kobalta, ki sestavljajo kontaktno zlitino, smo detektirali presenetljivo velike količine nečistič: ogljika, žvepla, kisika in kalcija. Z namenom, da bi izboljšali tehnologijo relejskih kontaktov, smo raziskovali različne faze tehnološkega postopka. Podajamo nekaj modelov, s katerimi razlagamo obnašanje elementov nečistoč pod različnimi eksperimentalnimi pogoji, kot so temperatura, proces ionskega jedkanja itd.
Keywords: analiza; Electronika; električni kontakti; elektronika; kontaktne površine; releji