AES and XPS characterization of titanium hydride powder - Paulin, Irena (Materiali in tehnologije, 2010)
Prašek titanovega hidrida, sintetiziran z mletjem titana v krogličnem mlinčku v vodikovi atmosferi do mikrometrske velikosti delcev, smo analizirali z rentgensko fotoelektronsko spektroskopijo (XPS). Pri tem smo izmerili močan signal titanovega oksida, ki je sicer upadel po intenzivnem ionskem jedkanju površine vzorca, ni pa izginil. Verjeten razlog je visoko razmerje površina/volumen posameznih delcev TiHspodajx, ki prispeva k znatnemu razmerju titanov oksid/TiHspodajx, kakor tudi morfologija površine praškastega vzorca zaradi katere je del oksida zasenčen med ionskim jedkanjem. S spektroskopijo Augerjevih elektronov (AES) smo opazili nekatere karakteristične razlike v obliki Ti LMM-spektrov med TiHspodajx in Ti, vendar jih je bilo mogoče pripisati TiHspodajx šele po primerjavi z enakim tipom spektrov, izmerjenih pri titanovem oksidu. Nadaljnjo meritev XPS smo opravili pri prašku Ti. Določili smo oksidne in kovinske komponente vrhov in preverjali premike kovinskih komponent pri TiHspodajx glede na Ti (premika naj bi bil 0,4 eV).
Keywords: titanov hidrid; sinteza; Augerjeva spektroskopija; rentgenska fotoelektronska spektroskopija