IR and X-ray photoelectron spectroscopy of V2O5, TiO2 and V/Ti-oxide sol-gel derived films - Mandrino, Đorđe (Kovine zlitine tehnologije, 1998)
V/Ti-oksidne filme smo pripravili iz koloidnih raztopin. V-oksoizopropoksida in Ti-propoksida v 2-propanola s tehniko potapljanja. Molska razmerja V:Ti v prekurzorjih so znašala 3:1, 1:1 in 1:3. Amorfni filmi so nastali po segrevanju na 300°C (1h). V IR spektru praškastega vzorca (V:Ti = 1:1)so se valenčna nihanja V=O pojavila pri 1020 ?$cm^{-1}$?. V IR spektru filma z istim molskim razmerjem pa se pojavita trakova pri 1008 and 914 ?$cm^{-1}$?, kar kaže na prisotnost ?$V^{4+}$?-O vezi v filmih. Novi trak pri 790 ?$cm^{-1}$? kaže na V-O-Ti vezi, ki povezujejo poliedre V-O in Ti-O. XPS meritve so potrdile, da filmi vsebujejo ?$V^{5+}$?, ?$V^{4+}$? in ?$Ti^{4+}$?, medtem ko je na njihovem površju prisoten le ?$V^{5+}$?. Profilna analiza filma s pomočjo ?$Ar^+$? ionskega jedkanja je pokazala, da se vanadij tekom jedkanja reducira do oksidacijskega stanja 3+, medtem ko jedkanje ne vpliva na oksidacijsko stanje titana.
Nadaljuje se kot: Materiali in tehnologije
Keywords: kovinski oksidi; titan; tanki filmi; vanadij; infrardeča spektroskopija; rentgenska analiza; sol-gel postopki