M. RO[KARI^ s sodel.: TEHNIKA XPS – MO^NO ORODJE ZA KARAKTERIZACIJO FOTOAKTIVNIH KATALIZATORJEV
TEHNIKA XPS – MO^NO ORODJE ZA KARAKTERIZACIJO FOTOAKTIVNIH
KATALIZATORJEV
Matev` Ro{kari~
1,2
, Gregor @erjav
2
, Albin Pintar
2
ZNANSTVENI ^LANEK
1
Univerza v Mariboru, Fakulteta za kemijo in kemijsko tehnologijo, Smetanova ulica 17, 2000 Maribor
2
Kemijski in{titut, Hajdrihova 19, 1001 Ljubljana
POVZETEK
V tem delu je predstavljena uporaba tehnike XPS pri {tudiju
~i{~enja onesna`enih voda s pomo~jo naprednih oksidacijskih
procesov (angl. advanced oxidation processes,A O P )k o tj e
heterogena fotokataliza. Za uspe{no fotokatalizo se izvaja razvoj
novih katalizatorjev, ki bi bili aktivni ob osvetljevanju z vidno
svetlobo in bi imeli bolj{e kvantne izkoristke. Posledi~no bi imeli
tudi bolj{o katalitsko aktivnost. Tehnika rentgenske fotoelek-
tronske spektroskopije (XPS) je mo~no orodje za karakterizacijo
novih sintetiziranih katalizatorjev, saj omogo~a vpogled v
mehanizem heterogene fotokatalize ter tako pripomore k bolj{emu
razumevanju delovanja katalizatorja. V tem delu so predstavljeni
primeri uporabe tehnike XPS iz literature za analizo katalizatorjev
s poudarkom na katalizatorju tipa g-C
3
N
4
/TiO
2
in kompozita
TiO
2
/Au.
Klju~ne besede: rentgenska fotoelektronska spektroskopija, foto-
kataliza, TiO
2
, g-C
3
N
4
/TiO
2
, plazmonski efekt, `lahtne kovine
XPS technique – a powerful tool for character-
ization of photoactive catalysts
ABSTRACT
This work presents the application of XPS technique to study the
cleaning of wastewater with the help of advanced oxidation pro-
cesses (AOPs), which also include heterogeneous photocatalysis.
For an efficient photocatalysis new catalysts are being developed,
which would be visible light active and have a better quantum
yield. This would increase the catalytic activity. The X-ray photo-
electron spectroscopy (XPS) technique is a powerful tool for the
characterization of the newly synthesized catalysts and helps to
get an insight into the reaction mechanism. This helps to form a
better understanding of the catalysts and enables its optimization.
This work presents the practical use of the XPS technique for the
characterization of catalysts, with an emphasis on the catalyst type
g-C
3
N
4
/TiO
2
and TiO
2
/Au.
Keywords: X-ray photoelectron spectroscopy, photocatalysis,
TiO
2
, g-C
3
N
4
/TiO
2,
plasmonic effect, noble metals
1 UVOD
Industrializacija in urbanizacija se iz leta v leto
ve~ata, kar ima za posledico pove~ane koli~ine
odpadnega materiala, ki je lahko v obliki trdnih,
plinastih ali teko~ih odpadkov. Posledi~no se ve~a tudi
poraba vode za industrijske procese [1]. V primeru
voda predstavljajo predvsem problem onesna`ila, ki
niso biolo{ko razgradljiva [2]. Ta onesna`ila, kot je
npr. bisfenol A, lahko v veliko primerih delujejo tudi
kot endokrini motilci [3]. Endokrini motilci ne motijo
le hormonskih sistemov `ivali v naravi, ampak preko
prehrambne verige tudi ljudi. Za odstranitev teh snovi
iz onesna`enih voda je primerna uporaba naprednih
oksidacijskih procesov (angl. advanced oxidation pro-
cesses, AOPs). Prednost AOP je, da lahko odstranijo
tudi nizke koncentracije {kodljivih molekul [2]. Tako
lahko s pomo~jo AOP v idealnem primeru pretvorimo
organske molekule do ogljikovega dioksida (CO
2
)i n
vode (H
2
O), kar imenujemo popolna mineralizacija
[2]. Lahko pa se zgodi le delna mineralizacija, pri
~emer problem predstavljajo novonastale spojine, ki
so velikokrat bolj toksi~ne kot prvotna onesna`ila.
Za doseganje popolne mineralizacije se je kot
dobra izbira izkazal proces heterogene fotokatalize.
Kot katalizator se pogosto uporabljajo polprevodniki,
kot je npr. titanov dioksid (TiO
2
), ki pa je katalitsko
aktiven le, kadar ga obsvetljujemo z ultravijoli~no
(UV) svetlobo. Da omogo~imo uporabo {ir{ega
spektra svetlobe in dose`emo bolj{e stopnje minerali-
zacije, potekajo raziskave v smeri razvoja katali-
zatorjev na osnovi TiO
2
z dodatkom drugih elementov.
Lastnosti sintetiziranih katalizatorjev je treba anali-
zirati s pomo~jo razli~nih tehnik, kot npr. du{ikova
adsorpcija/desorpcija, vrsti~na elektronska mikrosko-
pija (angl. scanning electron microscopy, SEM),
presevna elektronska mikroskopija (angl. transmission
electron microscopy, TEM), rentgenska `arkovna
difrakcija (angl. X-ray difraction, XRD), fotolumi-
niscen~ne meritve (angl. photoluminiscence, PL),
UV-Vis difuzna refleksija (ang. UV-Vis diffuse reflect-
ance, UV-Vis-DR), infrarde~a spektroskopija s
Fourierjevo transformacijo (angl. Fourier-transform
infrared spectroscopy, FTIR), elektrokemijska impe-
dan~na spektroskopija (angl. electrochemical imped-
ance spectroscopy, EIS) itn.
Uporabna je tudi rentgenska fotoelektronska
spektroskopija (angl. X-ray photoelectron spectros-
copy, XPS), saj lahko tako dolo~imo, ali je titan vezan
na ogljik in/ali na du{ik pri uporabi dvokomponent-
nega katalizatorja g-C
3
N
4
/TiO
2
. Hao s sodel. [4] je s
tehniko XPS pokazal odsotnost vrhov v XPS-spektrih
Ti 2p za vezi Ti–C in Ti–N ter s tem ugotovil, da se ti
elementi ne vklju~ijo v mre`o TiO
2
, ampak se je
g-C
3
N
4
vezal na povr{ini TiO
2
[4]. S pomo~jo tehnike
XPS lahko tudi preverimo ali smo med komponentami
pridobili `eljeni tip kontakta. Tako je s pomo~jo
tehnike XPS Jo s sodel. [5] dokazal nastanek Z-she-
matskega kompozitnega katalizatorja g-C
3
N
4
/TiO
2
[5].
@erjav s sodel. [6] je s pomo~jo tehnike XPS razisko-
val plazmonski efekt na katalizatorjih TiO
2
+ Au,
kakor tudi dolo~il vi{ino Schottkyjeve bariere [6].
M. RO[KARI^ s sodel.: TEHNIKA XPS – MO^NO ORODJE ZA KARAKTERIZACIJO FOTOAKTIVNIH KATALIZATORJEV
VAKUUMIST 41 (2021) 1–2 19

Tehnika XPS je mo~no orodje za pridobivanje
informacij o prisotnih elementih, kemijski sestavi,
kemijskem okolju elementov in o razli~nih interak-
cijah med komponentami. Analizna globina pri tehniki
XPS je okoli 3–6 nm. Ob~utljivost tehnike je okoli
0,5 at.%. V tem delu je najprej na kratko predstavljeno
podro~je AOP in fotokatalize. S pomo~jo podatkov iz
literature je podrobneje predstavljena uporaba tehnike
XPS za preu~evanje lastnosti kompozitnega kataliza-
torja g-C
3
N
4
/TiO
2
in spoznanja, ki smo jih pridobili.
Prav tako so predstavljeni primeri uporabe tehnike
XPS za preu~evanje katalizatorjev TiO
2
+ Au.
2 NAPREDNI OKSIDACIJSKI PROCESI (AOP)
Napredni oksidacijski procesi so se izkazali kot
alternativa biolo{ki obdelavi odpadnih voda. AOP
imajo tudi prednosti pred se`igom ekstrahiranih
organskih odpadkov, saj se pri se`igu spro{~ajo
nevarni plini, kot so poliklorirani dibenzodioksini in
poliklorirani dibenzofurani, kar pa se pri AOP ne
zgodi [7]. Kljub temu imajo tudi nekatere omejitve:
slab{i izkoristki, potreba po uporabi UV-svetlobe
(energijsko potratno), potrebna nizka koncentracija
onesna`ila ipd. [2,6].
AOP lahko potekajo po dveh reakcijskih poteh:
1. Oksidacija s kisikom (O
2
) z mokro oksidacijo
zraka (angl. wet air oxidation, WAO). Za ta namen
potrebujemo tlak 2–15 MPa in temperature med
150 in 320 °C [8].
2. Oksidacija s pomo~jo energijsko visoko bogatih
oksidantov, kot sta ozon in vodikov peroksid in/ali
s hidroksilnim radikalom (OH·), generiranim s
pomo~jo fotonov (ali katerih drugih reaktivnih
intermediatov) [9].
Z ekonomskega stali{~a je zanimiv radikal OH·, saj
nastane s pomo~jo katalizatorja (polprevodnika), ki ga
obsevamo s svetlobo izbrane valovne dol`ine ob
sobnih pogojih in uporabi netoksi~nih materialov[10].
Svetloba mora imeti dovolj energije, da vzbudi nosilce
naboja. Torej mora imeti ve~jo ali enako energijo, kot
je {irina prepovedanega pasu oziroma energijske
{pranje polprevodnika [1].
Ob prisotnosti katalizatorja (heterogena fotokata-
liza) iz mno`ice molekul vode nastanejo radikali OH·.
Ti radikali imajo oksidacijski potencial 2,8 V vs SHE
(standardna vodikova elektroda), ki je bolj pozitiven
od oksidacijskega potenciala za ozon (2,07 V vs
NHE), vodikov peroksid (1,78 vs NHE) ali katero
drugo reaktivno klorovo spojino [11]. Radikal OH·
radikal je prav tako neselektiven in ima veliko kon-
stanto hitrosti reakcije [9].
Reakcija med onesna`ilom in radikalom OH· lahko
poteka po {tirih razli~nih poteh:
1. radikalska adicija
2. abstrakcija vodika
3. prenos elektrona
4. radikalska kombinacija [9]
Reakcije za~etka napada OH· so v splo{nem
zapisane v kemijskih ena~bah (1) do (5).
RH + OH· H
2
O+R· (1)
2OH· H
2
O
2
(2)
R·+ H
2
O
2
 ROH + OH· (3)
R+O
2
 ROO· (4)
ROO·+ RH ROOH + R· (5)
Kot vidimo, napad radikala OH· povzro~i veri`no
reakcijo. Ta se lahko nato zaklju~i z nastankom CO
2
in
H
2
O, torej do popolne mineralizacija onesna`ila ali z
delno mineralizacijo, kjer se reakcija ustavi `e pri
vmesnih stopnjah razgradnje. Stopnja mineralizacije
in pot razgradnje pa sta odvisni od samega onesna`ila,
kakor tudi od izbora katalizatorja, vira svetlobe itn.
[7].
Za nastanek radikala OH· npr. TiO
2
absorbira
svetlobo z dolo~eno valovno dol`ino (UV-podro~je) in
nastane par fotogeneriranega elektrona (e
–
) in vrzeli
(h
+
), kar je prikazano v kemijski ena~bi (6) [2].
TiO
2
hv
⎯→ ⎯ TiO
2
+e
–
+h
+
(6)
Fotogenerirani elektroni imajo tako sposobnost
reducirati dolo~ene kovine in pomagati tvoriti iz O
2
superoksidni anionski radikal O·. Nasprotno pa vrzeli
oksidirajo adsorbirane spojine na katalizatorju, kot sta
H
2
O ali OH
–
, do radikalov OH· [2]. Katalizatorji, ki
lahko adsorbirajo velike koli~ine H
2
O ali ionov OH
–
,
imajo tako veliko prednost. Posledi~no so za`elene
ve~je specifi~ne povr{ine, saj omogo~ajo ve~jo
adsorpcijo [12]. Reakcija fotokatalize s pomo~jo TiO
2
pa ima tudi dve veliki pomanjkljivosti:
1. Za nastanek nosilcev naboja (par elektron-vrzel) je
pri TiO
2
potrebna UV-svetloba.
2. Kvantni izkoristek je majhen, saj se elektron in
vrzel hitro rekombinirata [2].
Zato je velika potreba po razvoju katalizatorja na
osnovi TiO
2
, ki bi katalitsko deloval ob uporabi
son~ne/vidne (Vis) svetlobe in posledi~no ne bi
potreboval tako majhnih valovnih dol`in (velike
energije) za uspe{no fotokatalizo. Hkrati pa naj bi imel
po~asnej{o rekombinacijo nosilcev naboja. Kot primer
modificiranega katalizatorja lahko podamo industrij-
ski katalizator Degussa P25, ki vsebuje anatazni in
rutilni polimorf TiO
2
. Posledi~no se je upo~asnila
rekombinacija zaradi lo~itve nosilcev naboja med
obema polimorfoma [12]. Prav tako ima Degussa P25
ugodno kristalno strukturo, velikost delcev, povr{insko
kislost, naravo in {tevilo mest za pasti ter druge
ugodne lastnosti, ki so zna~ilnost dobrega fotokatali-
zatorja [12].
M. RO[KARI^ s sodel.: TEHNIKA XPS – MO^NO ORODJE ZA KARAKTERIZACIJO FOTOAKTIVNIH KATALIZATORJEV
20 VAKUUMIST 41 (2021) 1–2

Kljub temu pa ima katalizator pomanjkljivost, to je
uporaba UV-svetlobe. Ne le, da so UV-svetilke ener-
gijsko potratne, je problemati~no tudi recikliranje
le-teh po prenehanju njihove uporabe. Ve~ina
UV-svetilk {e dan danes namre~ vsebuje `ivo srebro.
Na trg prihajajo tudi UV-diode, ki porabijo manj
energije in imajo ve~jo `ivljenjsko dobo [1]. Vseeno
pa poteka razvoj katalizatorjev, ki bi jih lahko upo-
rabili za generiranje nosilcev naboja tudi z vidno
svetlobo ali v idealnem primeru celo s son~no svet-
lobo. Tako je npr. Grag s sodel.[3] uporabil kodopiran
N,Co–TiO
2
, katerega je uspe{no uporabil za
razgradnjo bisfenola A (BPA) ob uporabi son~ne
svetlobe. To jim je omogo~il t. i. rde~i premik (angl.
red shift), kar pomeni, da se je absorpcija svetlobe
pomaknila proti ve~jim valovnim dol`inam. Ta rde~i
premik je posledica dopiranja TiO
2
z du{ikom (N) in
kobaltom (Co), kar je spremenilo elektronsko struk-
turo katalizatorja. Prav tako se s tem podalj{ajo tudi
`ivljenjske dobe nosilcev naboja [3]. Ob kombinaciji
TiO
2
s plemenitimi kovinami lahko s pomo~jo plaz-
monskih lastnosti plemenitih kovin (Au, Ag, Pt) prav
tako spro`imo kataliti~no aktivnost TiO
2
pri osvetlje-
vanju z vidno svetlobo [6].
Izbira in koncentracija dopanta sta pomembna
parametra, saj lahko prevelike koli~ine dopanta
delujejo kot centri za rekombinacije nosilcev naboja.
@erjav s sodel. [13] je uporabil kombinacijo dveh
polprevodnikov: TiO
2
in  -Bi
2
O
3
. Tako so omogo~ili
aktivnost pri uporabi vidne svetlobe in s kombinacijo
dveh polprevodnikov podalj{ali `ivljenjsko dobo
nosilcev naboja. Uporaba drugega polprevodnika je
tudi ekonomsko smiselna, saj so cenej{i kot pa
pogosto uporabljene `lahtne kovine. Prav tako niso
toksi~ni kot nekatere druge kovine prehoda (kot npr.
kadmij) [13]. Tudi dodatek reduciranih grafenskih
oksidov (rGO) z ustreznim prevodnim pasom omo-
go~a podalj{anje `ivljenjske dobe nosilcev naboja.
Tako je @erjav s sodel. [14] pokazal, da rGO delujejo
kot mre`a, po kateri lahko prehajajo fotogenerirani
elektroni [14].
Da izbolj{amo aktivnost izbranega katalizatorja, ga
lahko dopiramo tudi z drugimi kovinami in nekovi-
nami ter organskimi polimeri, ki imajo polprevodni{ke
lastnosti [15]. Hao s sodel. [4] je tako uspe{no
sintetiziral kompozit g-C
3
N
4
/TiO
2
, ki je bil aktiven v
vidnem obmo~ju in imel podalj{ano `ivljenjsko dobo
nosilcev naboja. Zaradi mezoporozne/makroporozne
strukture katalizatorja so dosegli tudi dober snovni
prenos. Uporabo g-C
3
N
4
so utemeljili s tem, da je
g-C
3
N
4
stabilen organski polprevodnik, ki je netok-
si~en in ima prepovedan pas energije 2,7 eV, kar mu
omogo~a aktivnost v vidnem podro~ju. Dodatno lahko
g-C
3
N
4
kot dodatek k TiO
2
ustvari stik (angl. junction),
ki lo~i nosilce nabojev in tako podalj{a njihovo
`ivljenjsko dobo. Posledi~no se izbolj{a aktivnost
fotokatalizatorja [4]. Drugi avtorji so se tudi lotili
preu~evanja bolj kompleksnih katalizatorjev, sestav-
ljenih iz ve~ razli~nih komponent [15].
3TiO
2
IN g-C
3
N
4
– KARAKTERIZACIJA S
POMO^JO TEHNIKE XPS
Ve~ji ekonomski vlo`ek pri uporabi kompozitnih
materialov je utemeljen z dejstvom, da imajo kompo-
zitni materiali manj omejitev, kot so velika vrednost
prepovedanega pasu, kratka `ivljenjska doba nosilcev
naboja itn. kot pa njihove posami~ne komponente.
Primer je kombinacija materialov g-C
3
N
4
in TiO
2
, saj
ima g-C
3
N
4
o`ji prepovedani pas (2,7 eV), ki je manj{i
kot pa v primeru ~istega TiO
2
(3,2 eV). Manj{a vred-
nost prepovedanega pasu omogo~a katalitsko aktiv-
nost kompozita ob uporabi vidne svetlobe. Uporaba
g-C
3
N
4
je smiselna tudi zato, ker izkazuje dobro
termi~no stabilnost, kakor tudi dobro fotoelektri~no
prevodnost [16].
Prednost polprevodnika g-C
3
N
4
je {e v tem, da ga
lahko pridobimo s preprostimi sinteznimi postopki iz
razli~nih prekurzorjev. Tako ga lahko sintetiziramo iz
uree, tiouree ali njune me{anice, kar vpliva na morfo-
logijo g-C
3
N
4
[17]. Pridobimo ga lahko tudi iz
melamina, pri ~emer so potrebne temperature sinteze
vi{je kot 500 °C, da reakcija pote~e popolnoma [18].
Sinteza lahko poteka tudi preko guanidin hidroklorida
in kasnej{ega raztapljanja v koncentrirani `veplovi
(VI) kislini, da se pridobi g-C
3
N
4
z visokim poten-
cialom adsorpcije in aktivnosti [19].
Sintetiziran g-C
3
N
4
se nato zdru`i s TiO
2
,k ii m a
lahko ponovno razli~no morfologijo in dolo~en poli-
morf. Tako lahko za sintezo TiO
2
uporabimo tetrabutil
ortotitanat (angl. tetabutyl orthotitanate, TBOT), iz
katerega s pomo~jo tehnike elektrospininga ustvarimo
kompozitni material g-C
3
N
4
/TiO
2
v enem koraku [16].
Sintezo kompozitnega materiala lahko izvedemo tudi s
kalciniranjem me{anice melamina in prekurzorja TiO
2
pri dolo~eni temperaturi [20]. Jo s sodel. [5] je s
pomo~jo hidrotermalne sinteze pripravil nanocevke
TiO
2
(angl. TiO
2
nanotubes, TNT), na katere je z
uporabo mokre impregnacije nanesel g-C
3
N
4
, pridob-
ljen s kalcinacijo melamina [5]. Li s sodel. [21] je
pridobil kompozitni material tako, da je najprej sinte-
tiziral votle nanodelce TiO
2
(angl. TiO
2
nanoparticles,
TNP), katere je nato zdru`il z melaminom in me{anico
sonificiral, posu{il in ponovno kalciniral [21]. Obsta-
jajo {e {tevilni drugi pristopi sinteze kompozitnih
materialov.
Sintetizirane materiale je treba podrobno analizi-
rati, da se lahko razi{~ejo mehanizmi nastanka in
izbolj{anje aktivnosti pri izbrani svetlobi. Tako je Jo s
sodel. [5] izvedel meritve XPS na katalizatorjih
M. RO[KARI^ s sodel.: TEHNIKA XPS – MO^NO ORODJE ZA KARAKTERIZACIJO FOTOAKTIVNIH KATALIZATORJEV
VAKUUMIST 41 (2021) 1–2 21

g-C
3
N
4
, TNP, TNT, kompozit s 5-odstotno vsebnostjo
g-C
3
N
4
in kompozit s 3-odstotno vsebnostjo g-C
3
N
4
.
Tako so raziskali kemijsko sestavo povr{in kataliza-
torjev in njihovo pripadajo~o oksidacijsko stanje. Z
meritvami XPS so potrdili prisotnost ogljika in du{ika,
kar nakazuje na uspe{no sintezo katalizatorja
g-C
3
N
4
/TiO
2
. V preglednem spektru niso bili prisotni
nepri~akovani vrhovi, kar ka`e na veliko ~istost
produktov. S pomo~jo izmerjenih spektrov XRD in na
podlagi meritev XPS so sklepali na uspe{no sintezo
Z-shematskega kompozitnega materiala. Na podlagi
meritev visokolo~ljivega spektra Ti 2p so sklepali, da
je valenca titana v TiO
2
enaka {tiri [5]. Prav tako se je
pozicija vrhov premaknila proti bolj pozitivnim
vezavnim energijam glede na vezavne energije ~istih
komponent. Slednje je povezano z nastankom pove-
zave med komponentama g-C
3
N
4
in TiO
2
v kompozitni
katalizator po Z-shemi.
Pri analizi visokolo~ljivega spektra C 1s za ~isti
g-C
3
N
4
je bil prisoten vrh za ogljik (284,8 eV) in vrh
za ogljik v vezi C–N–C od g-C
3
N
4
(288,3 eV). V
kompozitnih materialih se je ponovno zmanj{ala
intenziteta vrhov v primerjavi s ~istimi komponen-
tami. Prav tako je pri{lo tudi do premika vrhov v
XPS-spektru C 1s proti bolj pozitivnim vezanim
energijam kot v primeru XPS spektrov C 1s za ~iste
komponente. Iz tega so sklepali na uspe{no sintezo
kompozitnega katalizatorja po Z-shemi. V primeru
manj{e koncentracije g-C
3
N
4
v kompozitnih materialih
so se posledi~no tudi zmanj{ali vrhovi v XPS-spektru
C 1s. Obstoj vrha za vez C–N–C je kazal na ohranitev
g-C
3
N
4
v vseh kompozitnih materialih. Izvedli so {e
analizo visokolo~ljivega spektra N 1s, kjer so ponovno
detektirali vrhove za du{ikove vezi, prisotne v
materialu g-C
3
N
4
, ki so se v kompozitu obna{ali enako
kot v osnovnem materialu. S pomo~jo tehnik, kot so
XRD, SEM, TEM in HR-TEM, so {e dodatno potrdili
uspe{no sintezo Z-shematskega kompozitnega mate-
riala [5].
Podobno analizo kot Jo s sodel. [5] je predstavil
tudi Li s sodel. [21] za karakterizacijo votlih nano-
krogel (angl. hollow spheres, HS) TiO
2
, zdru`enih z
g-C
3
N
4
(HS-gCNTO
2
). Dolo~ili so prisotnost vrhov v
XPS-spektrih za kisik O 1s, ogljik C 1s, du{ik N 1s in
titan Ti 2p na povr{ini vzorca (slika 1e). Hkrati so tudi
potrdili odsotnost kontaminantov, kar je prikazano na
sliki 1e. V spektru C 1s (slika 1a) so dolo~ili signal za
ogljik, kakor tudi vrh za sp
3
-vezan ogljik. S pomo~jo
dekonvolucije so v spektru N 1s (slika 1b) dolo~ili
prisotnost vrhov za hibridiziran piridinski du{ik in
terciarni du{ik, ki sta zna~ilna za g-C
3
N
4
. Visoko-
lo~ljivi spekter O 1s (slika 1c) je pokazal prisotnost
vezi Ti–O, kakor tudi prisotnost povr{inskih skupin
–OH. S pomo~jo spektra Ti 2p (slika 1d) so ugotovili,
da ima titan oksidacijsko stanje {tiri. V primeru kom-
pozitnih materialov (HS-gCNTO
2
) so opazili zmanj-
{anje intenzitete vrhov in premik proti bolj pozitivnim
vezavnim energijam v primeru spektov C 1s in N 1s
(sliki 1a in b) glede na pozicijo signala v spektrih
~istih komponent. Opazili so tudi majhen premik
vrhov v visokolo~ljivih spektrih O 1s in Ti 2p (sliki 1c
in d) glede na pozicijo signala v spektrih ~istih kom-
ponent. Razlike v pozicijah vrhov so pripisali inte-
rakciji g-C
3
N
4
in TiO
2
ter posledi~no tvorjenega
nano-heterospoja [21].
Hao s sodel.[4] je uporabil tehniko XPS za pregled
mezo/makroporoznega kompozita g-C
3
N
4
/TiO
2
.V
preglednem spektru so dolo~ili vrhove le za titan,
kisik, ogljik in du{ik, kar ka`e na visoko ~istost kom-
pozitnih materialov. V primeru ~istega g-C
3
N
4
je bil v
visokolo~ljivem spektru O 1s prisoten vrh za
povr{inske skupine –OH. Visokolo~ljivi spekter C 1s
~istega TiO
2
je dokazal prisotnost adsorbiranega
ogljika, saj je bil v visokolo~ljivem spektru C 1s
prisoten vrh za ogljik. Tega so opazili tudi pri ~istem
g-C
3
N
4
in kompozitnem materialu ter ga je posledi~no
treba upo{tevati pri interpretaciji spektrov. V primeru
visokolo~ljivega spektra N 1s so zaznali vrh, ki je bil
M. RO[KARI^ s sodel.: TEHNIKA XPS – MO^NO ORODJE ZA KARAKTERIZACIJO FOTOAKTIVNIH KATALIZATORJEV
22 VAKUUMIST 41 (2021) 1–2
Slika 1: Pregledni in visokolo~ljivi spektri XPS: (a) spekter C
1s za g-C
3
N
4
in HS-gCNTO
2
; (b) spekter N 1s za g-C
3
N
4
in
HS-gCNTO
2
; (c) spekter O 1s za TiO
2
in HS-gCNTO
2
; (d)
spekter Ti 2p za TiO
2
in HS-gCNTO
2
; (e) pregledni spektri za
TiO
2
, g-C
3
N
4
, HS-gCNTO
2
“reprinted (adapted) with permis-
sion from [21]. Copyright (2021) American Chemical Soci-
ety”.

asimetri~en in je imel spektralno zna~ilnost (raz{iritev
vrha pri vezavni energiji 400,2 eV), iz ~esar so
sklepali, da sta se zdru`ila dva vrhova za du{ik:
hibridiziran piridinski du{ik in terciarni du{ik (N–C
3
).
V kompozitnem materialu so izmerili premik vrha
proti bolj pozitivnim vezavnim energijam v primeru
vrha za piridinski du{ik kot v primeru ~iste kom-
ponente, iz ~esar so sklepali, da je pri{lo do interakcije
med obema komponentama.
S pomo~jo dekonvolucije visokolo~ljivega spektra
Ti 2p so prav tako potrdili prisotnost vrhov za Ti 2p
3/2
in Ti 2p
1/2
s pripadajo~ima vezavnima energijama
458,7 eV in 464,5 eV. Iz tega so sklepali, da je prisoten
titan z valenco 4+. Oba vrhova sta brez spremembe
prisotna tudi v kompozitnih materialih. Posledi~no
nastanek kompozita ne vpliva na valenco titana v TiO
2
.
V primeru visokolo~ljivega spektra O 1s so opazili vrh
za vez Ti–O, kakor tudi za povr{inske skupine –OH.
Odsotnost vrhov za Ti–N ali Ti–C ka`e na dejstvo, da
je ves g-C
3
N
4
prisoten na povr{ini in se ne vklju~uje v
mre`i TiO
2
. Rezultati meritev XPS so bili v skladu z
rezultati meritev XRD, FTIR, TEM in UV-Vis [4].
Tehniko XPS za pregled kompozita g-C
3
N
4
/TiO
2
je
prav tako uporabil Liu s sodel. [16], kjer je v
preglednem XPS spektru detektiral le vrhove za titan,
kisik, du{ik in ogljik. Posledi~no so sklepali na
uspe{no sintezo kompozita brez prisotnosti ne~isto~.
V visokolo~ljivem spektru O 1s je bil prisoten vrh pri
530,1 eV, ki pripada titanu v vezi Ti–O, kakor tudi vrh
pri 532,2 eV, ki pripada ogljiku v vezi C=O. Iz tega so
sklepali, da je bil prekuzor tetrabutil ortotitanat (angl.
tetabutyl orthotitanate, TBOT) v procesu kalcinacije
pretvorjen v TiO
2
. Uspe{no sintezo g-C
3
N
4
so potrdili s
pomo~jo visokolo~ljivih spektrov C 1s in N 1s, v
katerih so bili prisotni karakteristi~ni vrhovi za
g-C
3
N
4
. Iz rezultatov meritev XPS, XRD, TEM, UV in
PL so sklepali na uspe{no sintezo heterogenega stika v
kompozitnem materialu [16].
Na sliki 2 je prikazana uporaba XPS-tehnike za
iskanje vzrokov pove~anja katalitske aktivnosti in
karakterizacije fotokatalizatorja g-C
3
N
4
/TiO
2
/hektorit
(angl. hectorite), ki ga je sintetiziral You s sodel. [22].
V preglednem spektru za TiO
2
/hektorit so detektirali
vrhove za ogljik, fluor, kisik, silicij, magnezij in titan.
V primeru kompozita s g-C
3
N
4
so detektirali {e signal
za du{ik, a v tem primeru ne tudi za fluor. Iz pre-
glednih spektrov (slika 2a) so sklepali na naslednje:
(i) prisotnost du{ika v trikomponentnem kompozitu
nakazuje na prisotnost g-C
3
N
4
, (ii) odsotnost signala
za fluor ne pomeni odsotnosti fluora; njegova koncen-
tracija je lahko namre~ pod mejo ob~utljivosti (angl.
limit of detection, LOD) in (iii) v obeh preglednih
spektrih niso zaznali natrija ali litija. Posledi~no sta se
zamenjala z ioni hidratiranega titana ali vodikovega
iona med procesom sinteze TiO
2
/hektorit.
V visokolo~ljivem spektru F 1s (slika 2b)z a
TiO
2
/hektorit je prisoten vrh pri 685,2 eV, ki pripada
fizikalno adsorbiranemu fluoru. Prisotnost fluora na
TiO
2
posledi~no obrazlo`i rezultate UV-Vis-DR in PL,
kjer so izmerili mo~no absorpcijo v UV-podro~ju in
detektirali vrhova za kisikove vrzeli (angl. oxygen va-
cancies, Vo) pri 464 in 525 nm v PL-analizi. To je tudi
skladno z avtorji Rehole s sodel. [39] Song s sodel.
[40] in Choudhury s sodel. [41], ki so ugotovili
mo`nost nastanka Vo, kadar je TiO
2
dopiran s fluorom.
Rezultati XPS-meritev so jim posledi~no omogo~ili
potrditev te hipoteze.
S pomo~jo spektra C 1s (slika 2c) so potrdili pri-
sotnost g-C
3
N
4
, saj so zaznali karakteristi~na signala
pri vezavnih energijah 288,1 in 284,6 eV. Opazili so
premik vrha proti manj{im vezavnim energijam v
primeru kompozita v primerjavi s ~istim g-C
3
N
4
.Z a
kompozit so opazili enak premik tudi v primeru
spektra N 1s (slika 2d), kjer so dolo~ili vrhove, zna-
~ilne za g-C
3
N
4
. Posledi~no so ponovno potrdili
uspe{no sintezo g-C
3
N
4
in njegovo vklju~itev v kom-
pozitni material. V primeru spektra O 1s (slika 2e) sta
bila prisotna dva vrhova pri vezavnih energijah
530,0 eV in 532,1 eV. Vrh pri vezavni energiji
M. RO[KARI^ s sodel.: TEHNIKA XPS – MO^NO ORODJE ZA KARAKTERIZACIJO FOTOAKTIVNIH KATALIZATORJEV
VAKUUMIST 41 (2021) 1–2 23
Slika 2: XPS-spektri za TiO
2
/hektorit (angl. hectorite), g-C
3
N
4
in g-C
3
N
4
/TiO
2
/herkorit: (a) pregledni spekter; (b) spekter F
1s; (c) spekter C 1s; (d) spekter N 1s, (e) spekter O 1s; (f)
spekter Ti 2p “Reprinted from Materials, Facile Synthesis of
g-C
3
N
4
/TiO
2
/Hectorite Z-Scheme Composite and Its Visible
Photocatalytic Degradation of Rhodamine B. Rong You,
Junyang Shen, Menghan Hong, Jinrui Li, Xiaomin Hong. 22,
2020, Materials, p. 5304".

532,1 eV so pripisali kisiku v Si–O v mre`i silicija in
vrh pri vezavni energiji 530,0 eV pa so pripisali kisiku
v Ti–O v mre`i TiO
2
. Odsotnost signala za povr{inske
skupine –OH v spektru O 1s je bila pri~akovana, saj
sinteza kompozita TiO
2
/hektorit poteka v kislem, kjer
se bolje adsorbira fluor. Posledi~no le-ta zasede ve~jo
povr{ino na katalizatorju in onemogo~i vezavo
hidroksilnih skupin. V primeru spektra O 1s so prav
tako opazili nasproten trend kot v primeru spektrov
C 1s in N 1s, saj so se vezavne energije v kompozitu
premaknile proti bolj pozitivnim vrednostnim vezavne
energije kot v primeru ~iste komponente.
Pomik vezavne energije proti bolj pozitivnim
vrednostim so opazili tudi v primeru spektra Ti 2p
(slika 2f). Prisotnost vrhov v spektru Ti 2p pri 458,8 in
464,5 eV nakazuje na prisotnost Ti
4+
v mre`i TiO
2
.
Izvedli so tudi teste aktivnosti, kjer je bil najbolj
aktiven trikomponentni kompozit. Za obrazlo`itev
aktivnosti so uporabili tehniko XPS, s katero so doka-
zali prisotnost Ti
3+
, ki ugodno vpliva na fotokatalitsko
aktivnost. Nadalje so s pomo~jo analize XPS obraz-
lo`ili zmanj{anje intenzitete PL, namre~ bolj pozitivna
vezavna energija (Ti 2p in O 1s) za kompozit
g-C
3
N
4
/TiO
2
/hektorit v primerjavi s posami~nimi
komponentami pomeni manj{o elektronsko gostoto.
Verjetno je to posledica prenosa elektronov iz TiO
2
(premik vezavnih energij proti bolj pozitivnim
vrednostim v primeru kompozita v spektrih Ti 2p in O
1s v primerjavi s ~istimi komponentami) v g-C
3
N
4
(premik vezavnih energij proti bolj negativnim
vrednostim v primeru kompozita v spektrih C 1s in N
1s v primerjavi s ~istimi komponentami). Dodatno
hektorit pomaga pri lo~itvi elektronov in vrzeli, kar se
odra`a v vezavnih energijah [22].
Podobno je tudi Kurse s sodel. [23] uporabil
tehniko XPS za spremljanje prenosa nosilcev naboja
[23]. Qui s sodel. [24] je s pomo~jo tehnike XPS
dokazal prisotnost `elenih elementov in prisotnost
TiO
2
ter g-C
3
N
4
. S spremembami intenzitete in
premiki vrhov so potrdili ne le prisotnost obeh kom-
ponent, ampak tudi interakcije med njimi zaradi
sprememb vezavne energije k bolj pozitivnim ali bolj
negativnim vrednostim. Tako so potrdili uspe{no
sintezo `elenih kompozitov [24]. Podobno je naredil
tudi Yu s sodel. [25], ki je prav tako preveril sestavo
katalizatorjev na povr{ini s pomo~jo tehnike XPS[25].
Wang s sodel.[26] je uporabil tehniko XPS za pregled
uspe{nosti sinteze p–n kompozita p-TiO
2
QDs in
-C
3
N
4
, kateri vsebuje kvantne pike TiO
2
(angl. quan-
tum dots, QD). V primeru XPS-meritve n-tipa TiO
2
so
izmerili vrh v visokolo~ljivem spektru Ti 2p pri
vezavni energiji 458,4 eV. V primeru kompozita se je
vrh premaknil proti bolj pozitivnim vezavnim ener-
gijam v primerjavi s ~istimi komponentami, iz ~esar so
sklepali na prisotnost titanovih vrzeli in posledi~no
prisotnost QD TiO
2
polprevodni{kega tipa p [26].
4 XPS-ANALIZE KATALIZATORJEV TiO
2
,
DOPIRANIH Z ZLATOM (Au)
Tehnika XPS je tudi uporabna za analizo drugih
katalizatorjev in njihovih pojavov, kot je Au/TiO
2
, kjer
se zgodi plazmonski pojav. @erjav s sodel. [6] je s
pomo~jo tehnike XPS dolo~il vi{ino Schottkyjeve
bariere (angl. Schottky barrier height, SBH) in njen
vpliv na katalitsko aktivnost po obsevanju z vidno
svetlobo fotokatalizatorja TiO
2
+ Au.
Na sliki 3 so prikazani visokolo~ljivi XPS-spektri
katalizatorjev na osnovi TiO
2
v obliki nanodelcev
(angl. titanium dioxide nanoparticles, TNP) in
nanopal~k (angl. titanium dioxide nanorods, TNR):
visokolo~ljivi XPS-spektri Ti 2p (sliki 3a in d),O1s
(sliki 3b in e)i nA u4 f( sliki 3c in f). V primeru
visokolo~ljivega spektra Ti 2p sta prisotna dva vrhova
(pri vezavnih energijah 465,0 eV in 459,2 eV), ki
pripadata spinskima orbitalama Ti 2p
1/2
in Ti 2p
3/2
.T e
vezavne energuije ka`ejo, da je titan v oksidacijskem
stanju 4+. Iz visokolo~ljivih spektrov Ti 2p in O 1s je
@erjav s sodel. [6] ugotovil, da nanos zlata ne vpliva
na kemijsko stanje nosilca, saj se vrhovi v XPS
spektrih niso spremenili. V primeru nanosa zlata so
zaznali signal za Au 4f, kljub majhni debelini nanosa.
Tukaj se je izkazala prednost tehnike XPS, saj ima
ni`jo ob~utljivost (LOD) kot tehnika XRD (pri XRD
niso zaznali signala za zlato). V XPS spektru Au 4f so
zaznali dva zna~ilna vrhova: 83,9 eV (Au 4f
7/2
) in 87,6
eV (Au 4f
5/2
). Zaradi prisotnosti teh vrhov so sklepali,
da je ve~ino zlata v kovinskem stanju. Odstopanje od
pri~akovane vrednosti 84,0 eV je @erjav s sodel. [6]
pojasnil z mo~nimi interakcijami med kovino in pol-
prevodnikom TiO
2
, saj so potrdili nastanek povezave
med njima s pomo~jo drugih tehnik (PL, UV-Vis-DR,
EIS). V primeru nosilca TNR je prisoten {e dodatni
vrh pri 86,9 eV v XPS spektru Au 4f, kateri lahko
pripada Au
2
O
3
ali drugim zvrstem, ki vsebujejo Au
3+
.
Tak{nih specij na povr{ini TNP ni bilo zaznati, kar
ka`e na vpliv nosilca na samo zlato.
S pomo~jo tehnike XPS so izmerili tudi maksimum
valen~nega pasu (angl. valence band maximum,
VBM), kar je prikazano na sliki 4. Glede na Fermijev
nivo so bili izmerjeni VBM za ~iste nosilce 3,07 eV za
TNP (slika 4a) in 3,09 eV za TNR (slika 4b). V
kompozitih so se te vrednosti zmanj{ale, in sicer na
2,76 eV za TNP + Au in 2,92 za TNR + Au. Zmanj-
{anje VBM je posledica prenosa naboja in nastanka
SBH na stiku titanovega dioksida in skupka zlata.
SBH nastane kot potencialna bariera za elektrone, ki
se premikajo z zlata na nosilec iz titanovega dioksida,
ko se poravnata Fermijeva nivoja obeh komponent. S
M. RO[KARI^ s sodel.: TEHNIKA XPS – MO^NO ORODJE ZA KARAKTERIZACIJO FOTOAKTIVNIH KATALIZATORJEV
24 VAKUUMIST 41 (2021) 1–2

pomo~jo XPS so tako dolo~ili SBH za TNP + Au
(0,31 eV) in TNR + Au (0,16 eV). Zaradi manj{e
vrednosti SBH »vro~i elektroni« (elektroni, ki so
pridobili veliko vrednost kineti~ne energije zaradi
pospe{ka v elektri~nem polju plazmonske kovine ob
obsevanju s svetlobo) v TNR + Au la`je prehajajo z
zlata v TNR in se jim tako podalj{a `ivljenjska doba.
To se sklada tudi z meritvami PL in EIS, kjer so
opazili ve~jo `ivljenjsko dobo nosilcev naboja TNR +
Au v primerjavi s TNP + Au. V primeru TNP + Au
morajo namre~ »vro~i elektroni« premostiti ve~jo
vrednost SBH in se posledi~no aglomerirajo ter se
hitreje rekombinirajo.
S tem se jim zmanj{a `ivljenjska doba, v kateri bi
lahko sodelovali v procesu fotokatalize. S pomo~jo
analiz XPS in ostalih meritev (PL, UV-Vis-DR, EIS)
so avtorji raziskave potrdili vzrok aktivnosti kom-
pozitov v vidni svetlobi. Ta le`i v injeciranju »vro~ih
elektronov« in prenosa plazmonske resonan~ne ener-
gije (angl. plasmonic resonance energy transfer,
PRET) ter u~inkoviti separaciji in migraciji nosilcev
naboja zaradi dovolj nizke SBH v obeh kompozitih
[6].s
Tudi drugi avtorji so raziskovali sistem TiO
2
+ Au.
Tako je Kurse s sodel. [23] opazoval spreminjanje va-
lence titana ob nanosu zlata zaradi dalj{ega ~asovnega
obsevanja med rentgensko analiza. Ob ~asu ni~ so
opazili pri~akovane odzive prete`no z zvrstmi Ti
4+
,
katere so imele prisotnega nekaj Ti
3+
. Ugotovili so, da
se zlato nahaja v kovinski obliki. Prav tako so s
pomo~jo izmerjenega valen~nega pasu raziskovali
interakcije zlata z nosilcem. Tako so ugotovili, da
delci zlata interagirajo z vezmi Ti–O na povr{ini
nosilca. Zato je vezavna energija vrha bolj negativna v
visokolo~ljivem XPS-spektru Ti 2p v primerjavi s
~isto komponento[23]. Pri {tudiju sistema TiO
2
+Au
so tehniko XPS zaradi njene {iroke uporabnosti
uporabili tudi {tevilni drugi avtorji [36–38].
M. RO[KARI^ s sodel.: TEHNIKA XPS – MO^NO ORODJE ZA KARAKTERIZACIJO FOTOAKTIVNIH KATALIZATORJEV
VAKUUMIST 41 (2021) 1–2 25
Slika 4: Dolo~itev VBM ~istih TiO
2
nosilcev (~rna ~rta) in
kompozitov TiO
2
+ Au (rde~a ~rta TNP nosilec/modra ~rta
TNR nosilec) s pomo~jo tehnike XPS. (Za interpretacijo
barve se naj bralec obrne na spletno verzijo tega ~lanka)
“Reprinted from Applied Surface Science, 543, Gregor
@erjav, Janez Zava{nik, Janez Kova~, Albin Pintar, The influ-
ence of Schottky barrier height onto visible-lihgt triggered
photocatalytic activity of TiO
2
+ Au composites,
148799-148809, Copyright (2021), with permission from
Elsevier [OR APPLICABLE SOCIETY COPYRIGHT OWNER]”
Also Lancet special credit – [6]. “Reprinted form The Lancet,
543, Gregor @erjav, Janez Zava{nik, Janez kova~, Albin
Pintar, The influence of Schottky barrier height onto visi-
ble-lihgt triggered photocatalytic activity of TiO
2
+Aucom -
posites, 148799-148809, Copyright (2021), with permission
from Elsevier.”
Slika 3: XPS-spektri ~istega nosilca TiO
2
(~rna ~rta) in
TiO
2
+Au (rde~a ~rta TNP nosilec/modra ~rta TNR nosilec):
visokolo~ljivi spektri Ti 2p ((a) in (d)), O 1s ((b) in (e)) ter Au
4f ((c) in (f)). “Reprinted with permission from Applied Sur-
face Science, 543, Gregor @erjav, Janez Zava{nik, Janez
Kova~, Albin Pintar, The influence of Schottky barrier height
onto visible-light triggered photocatalytic activity of TiO
2
+
Au composites, 148799-148809, Copyright (2021), with
permission from Elsevier [OR APPLICABLE SOCIETY COPY-
RIGHT OWNER]” Also Lancet special credit - [6]. “Re-
printed form The Lancet, 543, Gregor @erjav, Janez
Zava{nik, Janez kova~, Albin Pintar, The influence of
Schottky barrier height onto visible-lihgt triggered
photocatalytic activity of TiO
2
+ Au composites,
148799-148809, Copyright (2021), with permission from
Elsevier.”

5 SKLEP
[tevilne raziskave so pokazale, da je tehnika XPS
mo~no orodje za analizo povr{in katalizatorjev.
Tehnika omogo~a dolo~itev elementne sestave, detek-
cijo ne~isto~ na povr{inah ter oksidacijsko stanje,
valenco in kemijsko okolje elementov. V ~lanku smo
pripravili pregled rezultatov analiz XPS iz literature,
ki se nana{ajo na dva heterogena kompozitna katali-
zatorja za napredno oksidacijo. Obravnavali smo
sisteme g-C
3
N
4
/TiO
2
,T iO
2
in Au. Tako so v primeru
katalizatorjev tipa g-C
3
N
4
/TiO
2
v spektrih XPS
prisotni vrhovi za titan Ti 2p, kisik O 1s, ogljik C 1s in
du{ik N 1s. Iz njihovih vezavnih energij lahko sklepa-
mo na oksidacijsko stanje prisotnih elementov.
Tehnika XPS je tudi uporabna za detekcijo povr{insko
adsorbiranega ogljika iz atmosfere, prisotnosti vode
ali hidroksilnih funkcionalnih skupin. Omogo~a tudi
preverbo uspe{nosti sinteze ~istega g-C
3
N
4
, kakor tudi
uspe{nega nastanka kompozitov z drugimi polprevod-
ni{kimi materiali, uspe{ne impregnacije s plemenito
kovino itn. Z uporabo tehnike XPS prav tako ugoto-
vimo prisotnost in vrsto interakcij med obema kompo-
nentama v heterogenem sistemu. S tehniko XPS lahko
analiziramo tudi elektronske lastnosti in valen~ni pas
katalizatorjev. Prikazali smo meritev SBH v va-
len~nem pasu v primeru kompozitov TiO
2
in plaz-
monske kovine Au. Izsledki XPS analize so tudi v
pomo~ pri interpretaciji katalitske aktivnosti katali-
zatorjev. Tehnika XPS je zelo uporabna na podro~ju
heterogene fotokatalize in je komplementarna
tehnikam FTIR, XRD, PL, UV-Vis-DR itn.
6 LITERATURA
[1] V. Viano, O. Sacco, D. Sannino, Journal of Cleaner Production, 210
(2019) 10, 1015–1021
[2] R. Andreozzi, V. Caprio, A. Insola, R. Marotta, Catalysis Today,53
(1999) 1, 51–59
[3] A. Grag, T. Singhania, A. Singh, S. Sharma, S. Rani, A. Neogy, S. R.
Yadav, V. K. Sangal, N. Grag, Scientific Reports, 9 (2019) 765, 1–13
[4] R. Hao, G. Wang, H. Tang, L. Sun, C. Xu, D. Han, Applied Catalysis
B: Environmental, 187 (2016) 15, 47–58
[5] W.-K. Jo, T. S. Natarajan, Chemical engineering Journal, 281 (2015)
1, 549–565
[6] G. @erjav, J. Zava{nik, J. Kova~, A. Pintar, Applied Surface Science,
543 (2021), 148799
[7] M. Rein, Proceedings of the Estonian Academy of Science Chemistry,
50 (2001) 2, 59–80
[8] L. Y. Zou, Y. Li, Y.-T. Hung, Wet Air Oxidation for Waste Treatment,
Humana Press Inc, New Jersey, 2007, 575–605
[9] Y. Deng, R. Zhao, Current Pollution Reports, (2015) 1, 167–176
[10] G. @erjav, A. Pintar, Catalysts, 10 (2020) 4, 395
[11] R. Al-Rasheed, Water treatment by heterogeneous photocatalysis an
overview, The SWCC Acquired Experience Symposium, Jeddah,
2005
[12] G. Li, S. Ciston, Z. V. Saponjic, L. Chen, N. M. Dimitrijevic, T.
Rajh, K. A. Gray, Journal of Catalysis, 253 (2008) 1, 105–110
[13] G. @erjav, J. Ter`an, P. Djinovi}, Z. Barbieroková, T. Hajdu, V.
Brezová, J. Zava{nik, J. Kova~, A. Pintar, Catalysis Today, 361
(2021), 165–175
[14] G. @erjav, P. Djinovi}, A. Pintar, Catalysis Today, 315 (2018),
237–246
[15] M. Nasr, C. Eid, R. Habchi, P. Miele, M. Bechelany, ChemSusChem,
11 (2018), 3023–3047
[16] H. Liu, Z.-G. Zhang, H.-W. He, X.-X. Wang, J. Zhang, Q.-Q.
Zhang, Y.-F. Tong, H.-L. Liu, S. Ramakrishna, S.-Y. Yan, Y.-Z.
Long, Nanomaterials, 8 (2018) 10, 842
[17] A. Mishra, A. Mehta, S. Kainth, S. Basu, Journal of Materials Sci-
ence, 53 (2018), 13126–13142
[18] Z. Mo, X. She, Y. Li, L. Liu, L. Huang, Z. Chen, Q. Zhang, H. Xu,
H. Li, RSC Advances, 123 (2015) 5, 101522–101562
[19] L.-R. Zou, G.-F. Huang, D.-F. Li, J.-H. Liu, A.-L. Pan, W.-Q.
Huang, RSC Advances, 89 (2016) 6, 86688–86694
[20] J. Wang, J. Huang, H. Xie, A. Qu, International Journal of Hydro-
gen Energy, 39 (2014) 12, 6354–6363
[21] C. Li, Z. Lou, Y. Yang, Y. Wang, Y. Lu, Z. Ye, L. Zhu, Langmuir,35
(2019) 3, 779–786
[22] R. You, J. Chen, M. Hong, J. Li, X. Hong, Materials, 13 (2020) 22,
5304
[23] N. Kurse, S. Chenakin, Applied Catalysis A: General, 391 (2011)
1-2, 367–376
[24] J. Qiu, Y. Feng, X. Zhang, X. Zhang, M. Jia, J. Yao, RSC Advances,
18 (2017) 7, 10668–10674
[25] B. Yu, F. Meng, M. W. Khan, R. Qin, X. Liu, Ceramics Interna-
tional, 46 (2020) 9, 13133–13143
[26] S. Wang, F, Wang, Z. Su, X. Wang, Y. Han, L. Zhang, J. Xiang, W.
Du, N. Tang, Catalysts, 9 (2019) 5, 439
[27] D. A. Skoog, F. J. Holler, S. R. Crouch, Principal of Instrumental
Analysis, Thomson Brooks/Cole, Canada, 2007
[28] P. J. Paterl, P. H. Parsania, Biodegradable and Biocompatible Poly-
mer Composites, Woodhead Publishing, Rajkot, 2018, 55–79
[29] XPS: a powerful tool for the investigations of photocatalytic sur-
faces, https://areeweb.polito.it/ricerca/phocscleen/PhocscleenPapers
PDF/Session1/Castellino.pdf, zadnji~ dostopano: 11.5.2021
[30] D. A. Skoog, F. J. Holler, S. R. Crouch, Principles of Instrumental
Analysis, Thomson Higher Education, Belmont, 2007
[31] H. Bubert, H. Jennet, Surface and Thin Film Analysis: Principles,
Instrumentation, Applications, Wiley-VCH Verlag GmbH,
Weinheim, 2002
[32] B. D. Ratnes, D. G. Castner, Electron Spectroscopy for Chemical
Analysis, John Wiley & Sons Ltd, Chichester, 2002, 47–112
[33] M. Fin{gar, Microchemical Journal, 159 (2020), 105495
[34] L. Ma, G. Wang, C. Jiang, H. Baom Q. Xu, Applied Surface Sci-
ence, 430 (2018), 263–272
[35] S. P. Chenakin, G. Melaet, R. Szukiewiez, N. Kruse, Journal of Ca-
talysis, 312 (2014), 1–11
[36] Z. Jiang, W. Zhang, L. Jin, X. Yang, F. Yu, J. Zhu, W. Huang, The
Journal of Physical Chemistry C, 111 (2007) 33, 12434–12439
[37] X. Yu, X. Jin, X. Chen, A. Wang, J. Zhang, J. Zhang, Z. Zhao, M.
Gao, L. Razzari, H. Liu, ACS Nano, 14 (2020) 10, 13876–13885
[38] I. M. Arabatzis, T. Stergiopoulos, D. Andreeva, S. Kitova, S. G.
Neophytides, P. Falaras, Journal of Catalysis, 220 (2003) 1, 127–135
[39] L. Rebohle, J. von Borany, H. Fröb, W. Skorupa, Applied Physics B,
71 (2000), 131–151
[40] C. F. Song, M. K. Lü, P. Yang, D. Xu, D. R. Yuan, Zhin Solid Films,
413 (2002) 1–2, 155–159
[41] B. Choudhury, A. Choudhury, Current Applied Physics, 13 (2013) 6,
1025–1031
M. RO[KARI^ s sodel.: TEHNIKA XPS – MO^NO ORODJE ZA KARAKTERIZACIJO FOTOAKTIVNIH KATALIZATORJEV
26 VAKUUMIST 41 (2021) 1–2