ISSN 0351-9716
OPTI^NI PROFILOMETER
Marina Santo Zarnik 1,2, Janez Holc2
1 HIPOT-RR, d. o. o. Raziskave in razvoj tehnologij in sistemov, Trubarjeva 7, 8310 [entjernej
2 Institut "Jo`ef Stefan", Jamova 39, 1000 Ljubljana
POVZETEK
Na Odseku za elektronsko keramiko Instituta "Jo`ef Stefan" smo s sredstvi Evropskega sklada za regionalni razvoj v okviru Centra odli~nosti "Materiali za elektroniko naslednje generacije ter drugih prihajajo~ih tehnologij" kupili opti~ni profilometer Viking proizvajalca Solarius Inc. Profilometer uporabljamo za karak-terizacijo povr{in debelih plasti, nanesenih z razli~nimi metodami na kerami~ne in kovinske podlage.
Brezkontakni profilometer omogo~a karakterizacijo povr{in, ki jih s kontaknim na~inom merjenja ni mogo~e karakterizirati. To so v debeloplastni tehnologiji natisnjene in posu{ene paste, barve, mehke plastike, razni nanosi na papirju, plastiki, kovinah, merjenje mehanskih deformacij plastike in kovin ipd. Postopek merjenja je hiter, mo`no je merjenje profila 2Din 3D.
Optical surface profiler
ABSTRACT
An optical surface profiler gives excellent performance when it comes to measurements of roughness, relief and fine texture for a large number of materials and in numerous industrial and research applications. The most important feature for such measurement equipment is the treatment of surfaces that cannot be measured using tactile instruments, for example, measurements of the surfaces of wet films and coatings. In order to meet the requirements for these kinds of measurements in the Electronic Ceramics Department of the Jo`ef Stefan Institute, the Viking modular surface measuring system from Solarius™, was obtained in the frame of the national Centre of Excellence: "Materials for Electronics of the Next Generation and Other Emerging Technologies". This particular configuration of the Viking non-contact profiler system is equipped with two different optical sensors: a high-resolution Nobis® optical sensor (for measure-ments in the vertical range of 300 µm and with a vertical resolution of 10 nm) and a laser sensor (for the measurement range up to 5 mm and with a resolution of 1 µm). This way the system meets a wide variety of accurate 2Dand 3Dsurface inspections and provides the operator with the ideal tool for thick-film measurements.
1 OSNOVNE ZNA^ILNOSTI MERILNEGA SISTEMA IN PRINCIP MERJENJA
Opti~ni profilometer Viking – Solarius je merilni sistem, ki omogo~a brezkontaktno meritev profilov. Namenjen je predvsem za merjenje in analizo hrapavosti povr{in, merjenje debeline nanosov (tanke plasti debeline reda nekaj 100 nm, debele plasti do debelin ve~ 10 µm) ter merjenje ukrivljenosti podlage zaradi interakcije med podlago in nanosom, ki so posledica razli~nih termi~nih raztezkov, kemijskih interakcij in/ali drugih efektov. Zaradi prilagodljive konstrukcije je merilni sistem uporaben tudi za meritve stati~nih in kvazistati~nih deformacij povr{in, ki so posledica razli~nih mehanskih ali elektri~nih obremenitev.
Merilni sistem vklju~uje dva merilna senzorja: senzor Nobis® (ki deluje po principu barvnega raz-klona) z merilnim obmo~jem 300 µm in vertikalno lo~ljivostjo 10 nm ter laserski senzor z merilnim obmo~jem 5 mm in vertikalno lo~ljivostjo 1 µm (premer `arka: 30 µm).
Slika 1: Opti~ni profilometer Viking – Solarius s senzorjem Nobis®
Senzor Nobis® izkori{~a barvno napako opti~nih le~, tj. lastnost opti~nih le~, da fokusirajo svetlobo razli~nih valovnih dol`in vzdol` opti~ne osi. Bela svetloba se ob prehodu skozi le~e objektiva razkloni vzdol` opti~ne osi, kot je shemati~no prikazano na sliki 2. Merilno obmo~je senzorja je podano z razdaljo med fokusnima to~kama najve~je in najmanj{e valovne dol`ine, ki ju {e zazna spektrometer.
Princip merjenja s senzorjem Nobis je shemati~no prikazan na sliki 3. Senzor uporablja mo~an izvir bele svetlobe, ki se na objektivu, postavljenem navpi~no nad merjeno povr{ino, razkloni vzdol` opti~ne osi. Od povr{ine odbita svetloba z dolo~eno valovno dol`ino se preko polprepustnega zrcala usmeri v spektrometer. Poznanje zveze med valovno dol`ino in razdaljo fokusne to~ke omogo~a dolo~anje vi{ine oz. globine
Slika 2: Barvni razklon bele svetlobe na objektivu
4
VAKUUMIST 25/4 (2005)
Slika 3: Princip merjenja vi{ine povr{ine s senzorjem Nobis
opazovane to~ke na merjeni povr{ini. Do spektrometra pride samo tista svetloba, ki je fokusirana to~no na merjeno povr{ino. Zato med meritvijo ni treba premikati objektiva, kot je to primer pri klasi~nih konfokalnih sistemih. Merilno glavo, ki je brez gibljivih delov, se pred meritvijo ro~no fiksira na ustrezno razdaljo od povr{ine merjenca tako, da je njegova povr{ina v merilnem obmo~ju. Med meritvijo merilna glava miruje. Merjenec je na merilni mizici, ki se premika v poljubni smeri v horizontalni ravnini v obmo~ju 100 mm × 100 mm. Maksimalna hitrost pomikanja opti~ne mizice je 30 mm/s, tako lahko na vzorcu velikosti nekaj kvadratnih milimetrov izmerimo 3D-profil povr{ine z rastrom 1 µm v nekaj urah.
Laserski senzor deluje po principu laserske triangulacije, ki je shematsko prikazana na sliki 4. Laserski `arek je usmerjen na opazovano povr{ino. Vi{ina oz. globina merjene to~ke se izra~una na
Slika 4: Princip merjenja vi{ine vzorca z lasersko triangulacijo
VAKUUMIST 25/4 (2005)
ISSN 0351-9716
Slika 5: Merilni sistem Viking z lasersko glavo
osnovi paralakse med laserskim `arkom in to~ko opazovanja, to je svetlobnim senzorjem (CCD).
Merilni sistem z lasersko glavo je prikazan na sliki 5. Bistvena prednost tega sistem je veliko merilno obmo~je, saj omogo~a meritve profilov v obmo~ju do 5 mm.
V tabeli 1 so zbrane nekatere pomembne prednosti in slabosti obeh senzorjev merilnega sistema Solarius tip Viking.
Tabela 1: Primerjava senzorja Nobis in laserskega senzorja
Senzor	Prednosti	Slabosti
Nobis	velika vertikalna lo~ljivost, mo`nost merjenja prozornih, mehkih in "mokrih" povr{in, hitrost merjenja, velika horizontalna lo~ljivost	meritev debeline nekaterih opti~no reflektivnih materialov, kot na primer tanka napr{ena zlata plast debline 100 nm na siliciju
Laserski	{iroko merilno podro~je (nekaj milimetrov)	ob~utljivost za sence, manj{a lo~ljivost, majhna horizontalna lo~ljivost
2 NEKAJ PRIMEROV UPORABE OPTI^NEGA PROFILOMETRA
Navedli bomo nekaj primerov uporabe opti~nega profilometra v debeloplastni tehnologiji. Plasti so po nanosu debele nekaj 10 µm, odvisno od uporabljene tehnologije in lastnosti materiala.
Prvi primer uporabe je prikazan na sliki 6. Z elek-troforezo smo na korundno podlago, prevle~eno s tanko plastjo platine, ki nam je rabila kot elektroda, nanesli plast (Pb,La)(Zr,Ti)O3 (PLZT) in jo sintrali. Zaradi neenakomernega nanosa, ki je posledica neoptimizirane sestave suspenzije in pogojev nana{anja, je bila debelina nanosa na spodnji strani in robovih nekajkrat ve~ja kot v sredi{~u. Na robovih je plast po `ganju zaradi predebelega nanosa PLZT razpokala. Bela povr{ina na sliki 6 je obmo~je zunaj merilnega podro~ja senzorja Nobis.
5
ISSN 0351-9716
Slika 6: Primer 3D-povr{ine PLZT-plasti, nanesene z elektro-forezo na Pt/korundno podlago in `gano. Za meritev je bila uporabljena merilna glava Nobis. Vzorec je med elektroforezo visel tako, da je bil debelej{i del globlje v suspenziji. Merilna lestvica prikazuje izmerjeno globino v mm.
Slika 7a: Povr{ina debeloplastnega preskusnega vzorca: LTCC-podlaga s tiskanim in `ganimi debelimi plastmi PZT in zlatimi elektodami
Slika 7b: Izbran profil vzdol` daljice AB iz serije profilov, ki so rezultat meritve na sliki 7a
Slika 7c: Analiza merilnih rezultatov: izra~un debeline PZT-plasti na detajlu desne strani profila s slike 7b
6
Slika 7a prikazuje rezultate meritev povr{ine debe-loplastnega vzorca, izdelanega po postopku sitotiska. Na kerami~ni podlagi z nizko temperaturo `ganja (Low Temperature Cofired Ceramic – LTCC) smo nanesli elektrode iz tanke plasti zlata in debelo plast keramike Pb(Zr,Ti)O3 (PZT). Merili smo debelino nanosov in ukrivljenost vzorca. Meritev zelo nazorno poka`e tudi razli~ne defekte na povr{ini. Iz merilnih rezultatov je mo`no izbrati posamezne profile ter jih dodatno analizirati. Na sliki 7b je prikazan izbran profil vzdol` daljice AB, medtem ko slika 7c prikazuje primer analize merilnih rezultatov oz. meritev debeline nanosa PZT-plasti.
Slike 8a-8e prikazujejo primer meritve debeline nanosa lepila za pritrjevanje silicijevega senzorja tlaka z uporabo senzorja Nobis in laserskega senzorja.
Slika 8b: 3D-prikaz izmerjene povr{ine nanosa lepila (s slike 8a, levo)
Slika 8c: Analiza debeline nanosa lepila za pritrjevanje silicijevega senzorja tlaka
VAKUUMIST 25/4 (2005)
Slika 8e: 3D-prikaz izmerjene povr{ine vzorca s slike 8d. Slab{a lo~ljivost in izrazite sence, predvsem na desni strani vzorca, se izra`a v neostrem prehodu.
3 Sklep
Meritve, ki smo jih naredili na razli~nih vzorcih, so pokazale, da je merilni sistem Viking s senzorjem
ISSN 0351-9716
Nobis zelo primeren za merjenje hrapavosti razli~nih povr{in, debeline nanosov tankih in debelih plasti ter ukrivljenosti podlage zaradi interakcije med podlago in nanosom, ki so posledica razli~nih termi~nih raztezkov, kemijskih interakcij in/ali drugih efektov. Zaradi razli~ne odbojnosti in (delne) presojnosti nekaterih materialov so mo`ne te`ave pri meritvah tankih plasti, debelih do nekaj 100 nm, tako da moramo biti v takih primerih dodatno previdni pri analizi in interpretaciji merilnih rezultatov. Rezultati, ki smo jih dobili pri meritvah plasti, debelih od 1 µm do ve~ 10 µm, so potrdili veliko uporabnost merilnega sistema, predvsem za kontrolo priprave vzorcev, izdelanih s postopki debeloplastnega sitotiska. Z uporabo laserskega senzorja, ki je namenjen za {ir{e merilno podro~je, pa je sistem Viking primeren za meritve in analizo razli~nih tridimenzionalnih struktur in hibridnih debeloplastnih vezij. Zaradi prilagodljive konstrukcije in dostopnosti premikajo~e se merilne mizice je merilni sistem uporaben tudi za meritve stati~nih in kvazistati~nih deformacij povr{in, ki so posledica razli~nih mehanskih ali elektri~nih obremenitev pri senzorskih aplikacijah ali aktuatorjih, ki so ravno tako pomemben predmet raziskav na odseku.
4 Literatura
1Priro~nik za uporabo profilometra Viking, Solarius Inc. 2http://www.digitalsurf.fr/en/oemnobisprinciples.htm
VAKUUMIST 25/4 (2005)
7