URN:NBN:SI:doc-YV30RWEK2002Maex, KarenNauwelaers, BartYmeri, Hasandocuments/doc/Y/URN_NBN_SI_doc-YV30RWEK_001.pdfdocuments/doc/Y/URN_NBN_SI_doc-YV30RWEK_001.txt132articlestr. 1-50352-90453370068URN:NBN:SI:doc-YV30RWEKengStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCintegrirana vezjakapacitivnostmikroelektronikapolprevodnikiVLSI vezjaCAD-oriented semi analytic approach for capacitance matrix computation of multilayer VLSI interconnectsSemi-analitični pristop izračuna kapacitivnostne matrike večslojnih povezav v VLSI vezjih primeren za računalniško podprto načrtovanje