URN:NBN:SI:doc-YK7QI9572008Garbolino, TomaszPapa, Gregordocuments/doc/Y/URN_NBN_SI_doc-YK7QI957_001.pdfdocuments/doc/Y/URN_NBN_SI_doc-YK7QI957_001.txt138articlestr. 26-300352-904521936167URN:NBN:SI:doc-YK7QI957engStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCdigitalna vezjagenerator testnih vzorcevgenetski algoritmioptimiranjeA new approach to optimization of test pattern generator structureNov pristop k optimiranju strukture generatorja testnih vzorcev