URN:NBN:SI:doc-WRYN9XBC2002Kač, Urošdocuments/doc/W/URN_NBN_SI_doc-WRYN9XBC_001.pdfdocuments/doc/W/URN_NBN_SI_doc-WRYN9XBC_001.txt232articlestr. 123-1290352-904517112871URN:NBN:SI:doc-WRYN9XBCengStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCelektronska vezjanačrtovanjestandarditiskana vezjaIEEE 1149.1 standard: a widely supported design for testability technologyIEEE 1149.1 standard: dobro podprta tehnika načrtovanja zmožnosti testiranja vezij