URN:NBN:SI:doc-VZZABVAI2011Bončina, Tonicadocuments/doc/V/URN_NBN_SI_doc-VZZABVAI_001.htmdocuments/doc/V/URN_NBN_SI_doc-VZZABVAI_001.pdfdocuments/doc/V/URN_NBN_SI_doc-VZZABVAI_001.txt231articlestr. 14-190351-971615158294URN:NBN:SI:doc-VZZABVAIslvDruštvo za vakuumsko tehniko SlovenijeVakuumistInCenvironmental scanning electron microscopygaseous detector for secondary electronsokoljski vrstični elektronski mikroskopplinski detektor za sekundarne ionepressure-limiting-aperturereducirna zaslonkasecondary environmental electronssekundarni okoljski elektroniElektronska vrstična mikroskopija pri povišanem tlaku (ESEM)The environmental scanning electron microscopy (ESEM)