<Record><identifier xmlns="http://purl.org/dc/elements/1.1/">URN:NBN:SI:doc-VUE3BCUA</identifier><date>1994</date><creator>Kump, Peter</creator><relation>documents/znanstveni_clanki/vakuumist/html/URN_NBN_SI_doc-VUE3BCUA.html</relation><relation>documents/znanstveni_clanki/vakuumist/pdf/URN_NBN_SI_doc-VUE3BCUA.pdf</relation><relation>documents/znanstveni_clanki/vakuumist/txt/URN_NBN_SI_doc-VUE3BCUA.txt</relation><format format_type="volume">14</format><format format_type="issue">4</format><format format_type="main">5 strani</format><format format_type="type">article</format><format format_type="extent">str. 15-19</format><identifier identifier_type="ISSN">0351-9716</identifier><identifier identifier_type="COBISSID">11782951</identifier><identifier identifier_type="URN">URN:NBN:SI:doc-VUE3BCUA</identifier><language>slv</language><publisher>Društvo za vakuumsko tehniko Slovenije</publisher><source>Vakuumist</source><rights>InC</rights><subject language_type_id="slv">kemična analiza</subject><subject language_type_id="slv">rentgenska fluorescenčna spektroskopija</subject><subject language_type_id="slv">sledna analiza</subject><title>Rentgenska fluorescenčna spektroskopija s totalnim odbojem (TXRF)</title></Record>