URN:NBN:SI:doc-UVU9CFA02000Hren, John J.Sitar, ZlatkoWojak, GregoryZhirnov, Victor V.documents/doc/U/URN_NBN_SI_doc-UVU9CFA0_001.pdfdocuments/doc/U/URN_NBN_SI_doc-UVU9CFA0_001.txt304articlestr. 210-2150352-90452235220URN:NBN:SI:doc-UVU9CFA0engStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCAFM spektroskopija atomske sileAP atomske sondeatomska ločljivostkonice igelSPM mikroskopija s skanirno sondoupodabljanje molekulCharacterization of dielectrics on the "tips of needles"Vrednotenje dielektričnih materialov na merilnih konicah