32 KB144 KB24 KB199219991998Kaker, HenrikMarinković, Veliborletnik:32številka:5str. 379-385ISSN:1318-0010COBISSID:86698URN:URN:NBN:SI:doc-TDAVFS93slInštitut za kovinske materiale in tehnologijeŽelezarna JeseniceŽelezarna RavneŽelezarna ŠtoreKovine zlitine tehnologijeelektronska mikroskopijajeklamikroanalizazlitineMikroanaliza faz v jeklih in nikljevih zlitinah s povratno sipanimi elektroni v vrstičnem elekktronskem! mikroskopu| Phase microanalysis in steels and nickel alloys by backscattered electrons in the scanning electron microscope|The use of backscattered electrons in the scanning microscope for microanalysis of binary and pseudo-binary phases in steels and nickel alloys is described. By measurements of backscattering coefficients in combination with the EDS analysis the presence of light elements can be detected in phases like carbides, carbonitrides, nitrides and boridesV članku obravnavamo uporabo povratno sipanih elektronov v vrstičnem elektronskem mikroskopu binarnih in psevdo-binarnih faz v jeklih in nikljevih zlitinah. Z meritvijo koeficienta povratnega sipanja in v kombinaciji z rezultati mikroanalize EDS je možno identificirati faze z lahkimi elementi, kot so karbidi, karbonitridi, nitridi in boridi, ter ugotoviti njihovo sestavoNadaljuje se kot: Materiali in tehnologijeTEXTznanstveno časopisjejournalsSlovenian National E-content AggregatorNational and University Library of SloveniaInštitut za kovinske materiale in tehnologije