URN:NBN:SI:doc-TA5FXPEL2003Kač, UrošNovak, FrancSedevčič, Robertdocuments/doc/T/URN_NBN_SI_doc-TA5FXPEL_001.pdfdocuments/doc/T/URN_NBN_SI_doc-TA5FXPEL_001.txt333articlestr. 188-1940352-904518112807URN:NBN:SI:doc-TA5FXPELslvStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCintegrirana vezjakrmilnikiprevajalnikiprotokolivmesnikivodilaEksperimentalno testno okolje za družino standardov IEEE 1149.X