URN:NBN:SI:doc-QO7AIWLH2007Jankovec, MarkoTopič, Markodocuments/doc/Q/URN_NBN_SI_doc-QO7AIWLH_001.pdfdocuments/doc/Q/URN_NBN_SI_doc-QO7AIWLH_001.txt237articlestr. 80-860352-90456244692URN:NBN:SI:doc-QO7AIWLHengStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCFFT spektralni analizatormerjenjemikroelektronikaoptoelektronikašumtranskonduktančni ojačevalnikDevelopment and characterization of a low-frequency noise measurement system for optoelectronic devices