URN:NBN:SI:doc-MFT4IHRO2002Trontelj, Janezdocuments/doc/M/URN_NBN_SI_doc-MFT4IHRO_001.pdfdocuments/doc/M/URN_NBN_SI_doc-MFT4IHRO_001.txt324articlestr. 316-3190352-90453491924URN:NBN:SI:doc-MFT4IHROengStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCalgoritminapakeoznačevanjepolprevodnikisilicijeve rezinetestiranjeDevelopment and analyzis of fast, post-probe silicon wafer inking algorithmsRazvoj in analiza hitrih algoritmov za naknadno označevanje testiranja na silicijevih rezinah