URN:NBN:SI:doc-MDLTSSUE2023Rojec, Žigadocuments/doc/M/URN_NBN_SI_doc-MDLTSSUE_001.pdfdocuments/doc/M/URN_NBN_SI_doc-MDLTSSUE_001.txt253articlestr. 103-1170352-904510.33180/InfMIDEM2023.205192963843URN:NBN:SI:doc-MDLTSSUEengStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMBYanalogna vezjaodpornost na napakeoptimizacija vezijrobustnost vezijsinteza analognih vezijTowards smaller single-point failure-resilient analog circuits by use of a genetic algorithmManjšanje analognih vezij odpornih na odpoved poljubne komponente z uporabo genetskega algoritma