URN:NBN:SI:doc-KASJ8PCR2021Džubur, BenjaminEmeršič, ŽigaPeer, Peterdocuments/doc/K/URN_NBN_SI_doc-KASJ8PCR_001.pdfdocuments/doc/K/URN_NBN_SI_doc-KASJ8PCR_001.txtarticleStr. 360-3642591-044278502659URN:NBN:SI:doc-KASJ8PCRengFakulteta za elektrotehnikoSlovenska sekcija IEEEZbornik mednarodne Elektrotehniške in računalniške konferenceInCbiometricsbiometrijadeep learningface recognition with masksgloboko učenjemasked facesrazpoznava obrazov z maskamizakriti obraziBias analysis of deep face recognition with masked faces