URN:NBN:SI:doc-IO9DQFI72011Zupanič, Francdocuments/doc/I/URN_NBN_SI_doc-IO9DQFI7_001.htmdocuments/doc/I/URN_NBN_SI_doc-IO9DQFI7_001.pdfdocuments/doc/I/URN_NBN_SI_doc-IO9DQFI7_001.txt131articlestr. 4-70351-971614841622URN:NBN:SI:doc-IO9DQFI7slvDruštvo za vakuumsko tehniko SlovenijeVakuumistInCbackscattered electronsbackscattering coefficientcharacterizationkarakterizacijakoeficient povratnega sipanja elektronovodbiti elektroniscanning electron microscopySEMvrstična elektronska mikroskopijaApplication of backstattered-electron micrographs for phase identificationUporaba mikroposnetkov z odbitimi elektroni pri identifikaciji faz