URN:NBN:SI:doc-GLJOZ52R1998Kovač, Janezdocuments/znanstveni_clanki/vakuumist/html/urn_nbn_si_doc-gljoz52r.htmldocuments/znanstveni_clanki/vakuumist/pdf/urn_nbn_si_doc-gljoz52r.pdfdocuments/znanstveni_clanki/vakuumist/txt/urn_nbn_si_doc-gljoz52r.txt1828 straniarticlestr. 4-110351-971613499687URN:NBN:SI:doc-GLJOZ52RslvDruštvo za vakuumsko tehniko SlovenijeVakuumistInCrentgenska fotoelektronska spektroskopijarentgenske metodespektroskopske metodeRentgenska fotoelektronska spektroskopija z visoko lateralno ločljivostjo - mikro XPS