URN:NBN:SI:doc-ER929RR91993Cvikl, BrunoKoželj, MatjažKramberger, MiranMrdjen, Tomodocuments/znanstveni_clanki/vakuumist/html/URN_NBN_SI_doc-ER929RR9.htmldocuments/znanstveni_clanki/vakuumist/pdf/URN_NBN_SI_doc-ER929RR9.pdfdocuments/znanstveni_clanki/vakuumist/txt/URN_NBN_SI_doc-ER929RR9.txt1325 straniarticlestr. 26-300351-97165495044URN:NBN:SI:doc-ER929RR9slvDruštvo za vakuumsko tehniko SlovenijeVakuumistInCelektronipolprevodnikitanke plastivakuumska tehnikaI-V karakteristike Ag/n-Si(111) Schottky-jeve bariere nanesene po metodi curka ioniziranih skupkov, CIS