URN:NBN:SI:doc-BE3T1ADI2001Kovač, Janezdocuments/znanstveni_clanki/vakuumist/html/urn_nbn_si_doc-be3t1adi.htmldocuments/znanstveni_clanki/vakuumist/pdf/urn_nbn_si_doc-be3t1adi.pdfdocuments/znanstveni_clanki/vakuumist/txt/urn_nbn_si_doc-be3t1adi.txt1215 straniarticlestr. 4-80351-971615963687URN:NBN:SI:doc-BE3T1ADIslvDruštvo za vakuumsko tehniko SlovenijeVakuumistInCelektrične lastnostielektromigracijafazne mejeinterakcijekovinepolprevodnikitanke plastiFazna meja kovina/polprevodnikMetal/semiconductor interfce