URN:NBN:SI:doc-9L1L58TC2006Kač, Urošdocuments/doc/9/URN_NBN_SI_doc-9L1L58TC_001.pdfdocuments/doc/9/URN_NBN_SI_doc-9L1L58TC_001.txt236articlestr. 71-780352-904520235559URN:NBN:SI:doc-9L1L58TCslvStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCintegrirana vezjapreizkušanjeDesign for test of mixed-signal integrated circuitsNačrtovanje preizkusljivosti mešanih analogno-digitalnih integriranih vezij