<Record><identifier xmlns="http://purl.org/dc/elements/1.1/">URN:NBN:SI:doc-8LR68Z20</identifier><date>2005</date><creator>Kovač, Janez</creator><creator>Zalar, Anton</creator><relation>documents/znanstveni_clanki/vakuumist/html/urn_nbn_si_doc-8lr68z20.html</relation><relation>documents/znanstveni_clanki/vakuumist/pdf/urn_nbn_si_doc-8lr68z20.pdf</relation><relation>documents/znanstveni_clanki/vakuumist/txt/urn_nbn_si_doc-8lr68z20.txt</relation><format format_type="volume">25</format><format format_type="issue">3</format><format format_type="main">6 strani</format><format format_type="type">article</format><format format_type="extent">str. 19-24</format><identifier identifier_type="ISSN">0351-9716</identifier><identifier identifier_type="COBISSID">19469095</identifier><identifier identifier_type="URN">URN:NBN:SI:doc-8LR68Z20</identifier><language>slv</language><publisher>Društvo za vakuumsko tehniko Slovenije</publisher><source>Vakuumist</source><rights>InC</rights><subject language_type_id="slv">rentgenska fotoelektronska spektroskopija</subject><title>Zmogljivosti rentgenskega fotoelektronskega spektrometra (XPS) na institutu "Jožef Stefan"</title></Record>