URN:NBN:SI:doc-7HZXQF6O2017Tunaboylu, Bahadirdocuments/doc/7/URN_NBN_SI_doc-7HZXQF6O_001.pdfdocuments/doc/7/URN_NBN_SI_doc-7HZXQF6O_001.txt447articlestr. 255-2590352-904512059220URN:NBN:SI:doc-7HZXQF6OengStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCpaired-wiring schemesprostorski pretvornikisemiconductor testsheme parnega ožičenjaspace transformerstest polprevodnikovKarakterizacija konektorja prostorskega pretvornika za testni sitem ! silicijevih rezinSpace transformer connector characterization for a wafer test system