<Record><identifier xmlns="http://purl.org/dc/elements/1.1/">URN:NBN:SI:doc-5SSX571Y</identifier><date>2006</date><creator>Čeh, Miran</creator><creator>Gec, Medeja</creator><relation>documents/znanstveni_clanki/vakuumist/html/urn_nbn_si_doc-5ssx571y.html</relation><relation>documents/znanstveni_clanki/vakuumist/pdf/urn_nbn_si_doc-5ssx571y.pdf</relation><relation>documents/znanstveni_clanki/vakuumist/txt/urn_nbn_si_doc-5ssx571y.txt</relation><format format_type="issue">1/2</format><format format_type="volume">26</format><format format_type="main">4 strani</format><format format_type="type">article</format><format format_type="extent">str. 23-29</format><identifier identifier_type="ISSN">0351-9716</identifier><identifier identifier_type="COBISSID">19991847</identifier><identifier identifier_type="URN">URN:NBN:SI:doc-5SSX571Y</identifier><language>slv</language><publisher>Društvo za vakuumsko tehniko Slovenije</publisher><source>Vakuumist</source><rights>InC</rights><subject language_type_id="slv">elektronska mikroskopija</subject><subject language_type_id="slv">priprava vzorcev</subject><title>Tehnike priprave vzorcev za preiskave na TEM</title></Record>