URN:NBN:SI:doc-4IB5L5N82022Meh Peer, Jaša Viddocuments/doc/4/URN_NBN_SI_doc-4IB5L5N8_001.pdfdocuments/doc/4/URN_NBN_SI_doc-4IB5L5N8_001.txtarticleStr. 474-4771224128032591-0442URN:NBN:SI:doc-4IB5L5N8slvFakulteta za elektrotehnikoSlovenska sekcija IEEEZbornik mednarodne Elektrotehniške in računalniške konferenceInCelectronicelektronikameasuring resistormeasuring techniquemerilna tehnikamerilni uporpolprevodnikisemiconductors