URN:NBN:SI:doc-45ZWC0722007Elm, MelanieHolst, StefanWunderlich, Hans-Joachimdocuments/doc/4/URN_NBN_SI_doc-45ZWC072_001.pdfdocuments/doc/4/URN_NBN_SI_doc-45ZWC072_001.txt374articlestr. 235-2430352-90456543956URN:NBN:SI:doc-45ZWC072engStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCčipimikroelektronikananoelektronski sistemipreizkušanjetestiranjeDebug and diagnosismastering the life cycle of nano-scale systems on chip