URN:NBN:SI:doc-3UV2WFUE2004Bukovec, NatašaKodre, AlojzKozjek-Škofic, IrenaPadežnik Gomilšek, Janadocuments/znanstveni_clanki/acta_chimica_slovenica/html/urn_nbn_si_doc-3uv2wfue.htmldocuments/znanstveni_clanki/acta_chimica_slovenica/pdf/urn_nbn_si_doc-3uv2wfue.pdfdocuments/znanstveni_clanki/acta_chimica_slovenica/txt/urn_nbn_si_doc-3uv2wfue.txt110 strani51articlestr. 23-321318-02071734244URN:NBN:SI:doc-3UV2WFUEengSlovensko kemijsko društvoActa chimica slovenicaBYcerijevi oksidielektrokemijaEXAFSpodaljšana drobna struktura rentgenskih absorpcijskih robovstrukturna kemijaAtomic effects in EXAFS structural analysis of mixed Ce oxide thin films