URN:NBN:SI:doc-30BZRGE72000Muševič, Igordocuments/doc/3/URN_NBN_SI_doc-30BZRGE7_001.pdfdocuments/doc/3/URN_NBN_SI_doc-30BZRGE7_001.txt304articlestr. 223-2270352-90452235732URN:NBN:SI:doc-30BZRGE7engStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCAFM spektroskopijamikroskopija na atomsko siloSTM mikroskopijatopografija površine