URN:NBN:SI:DOC-Y4IWS1721997Klanjšek Gunde, Martadocuments/doc/Y/URN_NBN_SI_doc-Y4IWS172_001.pdfdocuments/doc/Y/URN_NBN_SI_doc-Y4IWS172_001.txt227articlestr. 120-1300352-9045823834URN:NBN:SI:doc-Y4IWS172engStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCanalizna kemijainfrardeča spektroskopijamaterialimikroelektronikanečistočetanke plastiInfrared spectroscopy as analysing tool for materials used in microelectronicsUporaba infrardeče spektroskopije pri analizi materialov za mikroelektronsko industrijo