URN:NBN:SI:DOC-XMW7FCN11998Maček, Marijandocuments/doc/X/URN_NBN_SI_doc-XMW7FCN1_001.pdfdocuments/doc/X/URN_NBN_SI_doc-XMW7FCN1_001.txt228articlestr. 77-800352-90458980781URN:NBN:SI:doc-XMW7FCN1slvStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCbolometriIR senzorjimerjenjemikroelektronikatoplotno sevanje