URN:NBN:SI:DOC-XKXMSKBM2000Budnar, MilošPelicon, PrimožRazpet, AlenkaZorko, Benjamindocuments/znanstveni_clanki/materiali_in_tehnologije/html/urn_nbn_si_doc-xkxmskbm.htmldocuments/znanstveni_clanki/materiali_in_tehnologije/pdf/urn_nbn_si_doc-xkxmskbm.pdfdocuments/znanstveni_clanki/materiali_in_tehnologije/txt/urn_nbn_si_doc-xkxmskbm.txt3/4344 straniarticlestr. 161-1641580-2949222378URN:NBN:SI:doc-XKXMSKBMslvInštitut za kovinske materiale in tehnologijeMateriali in tehnologijeInCanalizne metodekarakterizacijaspektroskopijatanke plastiCharacterization of thin films and surfaces with ion-beam analytical techniquesKarakterizacija tankih plasti in površin s hitrimi ioni