URN:NBN:SI:DOC-XD2VMAYF2011Maver, TinaMaver, UrošPeršin, ZdenkaStana-Kleinschek, Karindocuments/doc/X/URN_NBN_SI_doc-XD2VMAYF_001.htmdocuments/doc/X/URN_NBN_SI_doc-XD2VMAYF_001.pdfdocuments/doc/X/URN_NBN_SI_doc-XD2VMAYF_001.txt345articlestr. 205-2111580-2949858282URN:NBN:SI:doc-XD2VMAYFengInštitut za kovinske materiale in tehnologijeMateriali in tehnologijeInCfunkcionalizacija konicmikroskop na atomsko silomikroskop na kemijsko silospektroskopija silFunctionalization of AFM tips for use in force spectroscopy between polymers and model surfacesFunkcionalizacija AFM-konic za uporabo v spektroskopiji sil med polimeri in modelnimi površinami