5198 KB0 KB200020242019Donik, Črtomirletnik:53številka:6str. 929-936COBISSID_HOST:1532586ISSN:1580-2949URN:URN:NBN:SI:doc-V1SCJEAVenInštitut za kovinske materiale in tehnologijeMateriali in tehnologijeBSDEDSFIB SEMSEMSEM imagingDo the latest scanning electron microscopes with a variety of analytical and imaging techniques provide us with realistic images and compositions?| Ali najnovejši SEM-mikroskopi, opremljeni z različnimi analitskimi tehnikami, prikazujejo realne slike in sestave dejanskih vzorcev?|Revija Materiali in tehnologije je znanstvena serijska publikacija, ki objavlja izvirne in tudi pregledne znanstvene članke ter tehnične novice, ki obravnavajo teoretična in praktična vprašanja naravoslovnih ved in tehnologije na področjih kovinskih in anorganskih materialov, polimerov, vakuumske tehnike in v zadnjem času tudi nanomaterialov. Revija, ki je nadaljevanje publikacije Kovine zlitine tehnologije, izhaja od leta 2000 in ima tudi elektronsko izdajo. Izdaja jo Inštitut za kovinske materiale in tehnologijeTEXTznanstveno časopisjejournalsSlovenian National E-content AggregatorNational and University Library of SloveniaInštitut za kovinske materiale in tehnologije