Ali najnovejši SEM-mikroskopi, opremljeni z različnimi analitskimi tehnikami, prikazujejo realne slike in sestave dejanskih vzorcev?

URN:NBN:SI:DOC-V1SCJEAV2019Donik, Črtomirdocuments/doc/V/URN_NBN_SI_doc-V1SCJEAV_001.pdfdocuments/doc/V/URN_NBN_SI_doc-V1SCJEAV_001.txt536articlestr. 929-93615325861580-2949URN:NBN:SI:doc-V1SCJEAVengInštitut za kovinske materiale in tehnologijeMateriali in tehnologijeInCBSDEDSFIB SEMSEMSEM imagingAli najnovejši SEM-mikroskopi, opremljeni z različnimi analitskimi tehnikami, prikazujejo realne slike in sestave dejanskih vzorcev?Do the latest scanning electron microscopes with a variety of analytical and imaging techniques provide us with realistic images and compositions?