URN:NBN:SI:DOC-SVYQ26VN2001Kunc, Vinkodocuments/doc/S/URN_NBN_SI_doc-SVYQ26VN_001.pdfdocuments/doc/S/URN_NBN_SI_doc-SVYQ26VN_001.txt314articlestr. 279-2800352-90452535252URN:NBN:SI:doc-SVYQ26VNengStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCCMOSkapacitivnostmerjenjepatentiMultidimensional capacitance measuring systemVečdimenzionalni kapacitivni merilni sistem